MCU AD采集的WCCA分析方法及案例

一、WCCA分析核心逻辑

最坏情况电路分析（WCCA）需通过以下步骤实现：

1. 识别关键元件及参数：包括传感器、分压电阻、参考电压源、ADC模块等元件的公差、温度系数、老化效应等。
2. 建立数学模型：推导输出电压与元件参数的数学关系，明确误差传递路径。
3. 代入最坏参数组合：通过极端参数组合（如电阻最大值+参考电压最小值），计算最大误差。
4. 验证系统容差：判断总误差是否满足设计要求，若超出则优化元件选型或调整电路设计。

二、MCU的AD采集误差来源分类：

2.1、ADC自身固有误差

2.1.1. 偏移误差（Offset Error）

o 实际第一次转换点与理想值的偏差，由ADC内部电路的非理想特性引起。
o 表现形式：所有转换结果整体偏移固定值。

2.1.2. 增益误差（Gain Error）

o 实际最后一次转换点与理想值的偏差，导致满量程范围内的比例误差。
o 可通过校准补偿，但需结合偏移误差共同修正。

2.1.3. 微分线性误差（DNL）

o 相邻码值之间的实际步长与理想1 LSB的差异，可能导致丢码或跳码现象。

2.1.4. 积分线性误差（INL）

o 实际转换曲线与理想直线的最大偏离，反映整体非线性程度。

2.1.5. 总未调整误差（TUE）

o 综合所有误差后的最大偏差，通常为偏移、增益、非线性误差的叠加。

2.2、参考电压相关误差