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用于通过一系列坐标点定义一个多边形区域（至少需要三个不共线的点），该区域位于电路板安装位置的上方或下方，坐标点的X-Y坐标值以夹具原点为基准，可按顺时针或逆时针方向排列，通常从区域左下角的点开始标注。当新文件被保存时，被引用文件的内容会被整合到新文件中，且原有的引用关联关系会被移除。当新文件被保存时，被引用文件的内容会被整合到新文件中，且原有的引用关联关系会被移除。，用于标识该禁布区所在的夹具探针板。用于将指定文件的内容插入到当前文件的对应位置。用于将指定文件的内容插入到当前文件的对应位置。

2026-06-08 23:15:49 253

原创 3070文件格式--20--fixture文件 2

通常，可通过该块描述以下两类内容：一是用于夹具电子元件的节点，二是电路板测试开发或工程变更（ECO）期间运行夹具生成软件时。举个例子：假设使用的探针单支压力额定值为8盎司，密度阈值设为80，则每平方英寸的电路板区域内最多可布置10支探针。该字段包含用于识别所制造夹具类型的零件编号。用于指定写入夹具的识别编号，以实现夹具的自动识别功能。若未明确指定密度阈值，系统会根据夹具类型自动赋值：对于 Express 卡匣式夹具等机械夹具，默认值为。包含夹具的全局信息，具体包括：夹具配置项、夹具禁布区、夹具安装孔。

2026-04-28 23:23:22 459

原创 3070文件格式--19--fixture文件 1

本章介绍fixture文件夹具默认值文件和夹具组件文件的结构与语法。测试开发软件会生成fixture文件、fixture.o目标文件、夹具组件文件，以及制造测试夹具所需的各类报表与文件。在多路复用（Mux）系统中，该软件仅生成目标文件fixture.o，不生成源文件；但用户可基于目标文件生成对应的源文件。fixture文件必须通过夹具默认值文件完成初始化。若有需求，也可再次使用夹具默认值文件对fixture文件进行初始化。用户可通过修改夹具组件文件，实现对探针属性的调整。注意。

2026-04-26 22:53:53 590

原创 3070文件格式--18--设备文件

标签与命令的映射逻辑操作员键盘的标签（Label）和触发命令（Command标签不区分大小写：例如和效果完全一致，调用时系统会自动转为小写。命令严格区分大小写：例如CHAR_START和char_start是两个不同的指令，必须和 BT-BASIC 中定义的功能名称完全匹配。多组键盘配置的切换你可以在文件中定义多组不同的操作员键盘配置（如standardhighspeedmanualtest等），在测试程序中通过operator。

2026-04-26 15:55:15 368

原创设备通讯4--C/C++语言开发4 UCI函数库语法

可执行UCI服务器程序由用户自定义函数和标准化主程序两部分组成，依赖uciapi.h头文件和库文件。主程序核心流程固定为「创建服务器→注册函数→处理调用→关闭服务器」，核心函数为。超时时间由rinit语句设置（默认30秒），适用于服务器启动、单个函数运行、程序终止三个场景。用户自定义函数有固定签名，通过「程序名」定义、「注册名」调用，rcall语句通过参数位置识别参数。编译UCI程序时必须链接，运行时通过三条语句完成生命周期控制。

2026-03-08 09:08:44 422

原创设备通讯3--C/C++语言开发3

示例程序中包含两个简单的用户自定义函数。除以下注意事项外，编写用户自定义函数没有特殊流程，仅需注意可通过各类API调用来访问数据和抛出错误（详见《API调用函数库》章节）。同时，需确保BT-BASICrinit语句设置的超时时间足够长，以容纳运行时间最长的用户自定义函数执行并完成。每个函数都没有返回值，且仅有一个类型的参数。与标准C语言中在函数声明中列出参数及其类型的做法不同，UCI用户自定义函数通过专用例程，支持从BT-BASIC和ATL传递任意格式的参数列表。

2026-03-04 09:03:01 399

原创设备通讯2--C/C++语言开发2

从BT-BASIC直接调用用户函数会因BT-BASIC与ATL频繁交互增加复杂度，推荐优先从ATL中调用。开发UCI服务器需安装兼容的C/C++开发工具，且编译时必须链接uciapi.lib库文件。UCI服务器程序的main函数格式标准化，核心流程为「创建服务器→注册函数→处理调用→关闭服务器」。rcall语句调用的函数名是注册的别名，而非C/C++程序中的原始函数名。

2026-03-02 14:58:45 615

原创设备通讯1--C/C++语言开发1

如果你更倾向于直接在BT-BASICtestplan中控制远程仪器，可参考示例7。尽管该方法的测试结果与示例6一致，但由于BT-BASIC与ATL之间需要频繁交互，会导致测试程序的复杂度更高。示例7 利用rcall语句从BT-BASIC中控制仪器!本示例通过模块上的高频同轴端口（"FREQ_CNTR_HIGH"与"FREQ_CNTR_LOW"）!将频率计数器（FREQ_CNTR）连接至被测器件（DUT）的两个节点（"Node1"与"Node2"），并执行测量。!执行流程如下：!

2026-02-27 10:55:52 662

原创 3070文件格式--17--设备文件

若被测设备电源处于正常工作状态，可通过梳理线缆连接关系，确定电源与对应模块的连接情况，从而获取其 GPIB 地址。：若某台电源同时为两个模块供电，其默认 GPIB 地址（及对应的设备文件）以编号较小的模块为准。表1 列出了被测设备电源的 GPIB 地址与对应设备文件的映射关系。若电源配有前面板且便于操作，也可直接从前面板读取 GPIB 地址。若任意一台被测设备电源的 GPIB 地址发生变更，需修改对应的。：用户可根据需求灵活修改被测设备电源的 GPIB 地址配置。代表该电源对应的 GPIB 地址。

2026-02-23 08:14:14 361

原创 3070文件格式--16--hosts文件

【代码】3070文件格式--16--hosts文件。

2026-02-10 18:28:15 66

原创 3070文件格式--15--bootptab文件

更换系统卡时，需将旧卡上的只读存储器（ROM）取下，安装到新的系统卡上。每块系统卡与控制卡均配有唯一的硬件地址（HA）。文件，使其匹配新控制卡的唯一硬件地址。完整的硬件地址格式通常为。为控制卡上标注的编号。更换控制卡时，需更新。文件的编辑流程完成。

2026-02-08 22:57:34 380

原创 3070文件格式--14--标准配置文件

。系统出厂时，标准配置文件默认包含以下内容：标准配置文件的路径如下：电路板测试开发人员在创建电路板配置文件时，可将标准配置文件作为模板。电路板配置文件存放于各电路板对应的子目录中，其内容为标准配置文件的副本或子集。该文件可用于描述某一套系统或某一系统子集内的所有可用资源。系统配置文件与标准配置文件中，语句的语法格式完全相同。每个电路板配置文件中均需包含一条语句。对于多路解复用系统（UnMux systems），唯一有效的配置语句为。表4-3 列出了多路复用系统（Mux systems）出厂默认的

2026-02-03 08:19:04 627

原创 3070文件格式--13--系统配置文件

例如，若系统接入的是 60 赫兹的交流电，则需将 50 赫兹相关的配置行注释。文件中定位一个配置块，该配置块包含系统卡和 ControlXTP1 卡的硬件地址与 IP 地址信息。注：系统配置文件的修改内容，需同步更新至标准配置文件中，具体可参考《标准配置文件》章节。语句中仅需列出系统中已安装的模块。出现上述情况时，需协调该文件中的电源编号，确保与其他现有系统保持一致。模板文件，编辑其内容以匹配系统的实际配置，即可完成损坏文件的修复。若测试头卡的型号或卡的安装位置发生变更，需对系统配置文件进行编辑。

2026-02-01 13:59:20 633

原创 3070文件格式--12--wirelist文件格式详解 2

include语句的核心作用是在当前wirelist文件中引入其他文件的代码，实现代码复用；被引入文件的目标代码会与原文件合并，<file id>需为字符串常量形式的文件标识（路径/名称）；该语句无严格的位置限制，本质是编译器层面的文件内容合并，使用时需确保被引用文件路径正确。subtest用于在测试块内定义子测试，仅适用于模拟、模拟功能、混合功能测试类型；子测试名称为字符串常量且长度≤48字符，每个子测试块必须以结束；子测试块嵌套在test。

2026-01-29 16:28:48 2464

原创 3070文件格式--11--wirelist文件格式详解 1

test语句是wirelist测试块的起始标识，未指定测试类型时默认为数字测试；语法支持灵活配置：可仅指定名称，也可组合测试类型、混合选项、版本标签等；混合测试需通过;分隔测试名称与，默认资源类型为数字+模拟。device语句用于定义测试块内的器件块，核心需指定器件标识符和多路复用卡地址（侧别+地址+端口）；多路复用卡地址编号范围为 1-15，端口编号范围为 1-64，侧别仅支持 top/bottom 两种；每个器件块需以end device语句结束，且嵌套在test测试块内。

2026-01-28 23:20:51 738

原创 3070文件格式--10--testorder文件格式详解

testorder文件包含了本电路板所有测试项的清单。每项测试的条目包含测试类型（电阻测试、数字测试、混合信号测试等）、测试名称，以及可选的测试属性（如permanent（永久性）、nulltest（空测试）、power（电源））。testorder文件为自动生成，但你也可以手动创建或编辑该文件。testorder集成程序生成器（IPG）IPG 测试顾问testplan生成器（TPG）模块引脚分配工具（MPA）各类测试（如模拟在线测试、数字测试）将按照其在testorder。

2026-01-25 22:11:29 737

原创 3070文件格式--9--boardxy文件格式详解 3

因为 GROUP 关键词指定了要使用的导线类型，所以只能在该关键词下列出所指定类型的组。board_xy 编译器将判断组中指定的器件引脚之间的距离是否过大，不适合该组的导线类型。关键词 OTHER 标记了一组与器件引脚相关的 X-Y 位置的开始。当与 OTHER 关键词一起使用时，EXTRAS 关键词标志着包含额外器件引脚的 X-Y 位置及其可访问性列表的开始。当与 OTHER 关键词一起使用时，关键词 ALTERNATES 标记了一组包含与器件引脚相关的 X-Y 位置及其可访问性的列表的开始。

2026-01-24 17:38:18 929

原创 3070文件格式--8--boardxy文件格式详解 2

在编译 board_xy 文件时，SCALE 和 UNITS 值将用于将所有单位转换为第十密耳，以生成 board_xy.o 文件。当新文件被存储时，包含文件中的信息将成为新文件的一部分，并且与包含文件的链接会丢失。本节描述了 board_xy 文件的语法。在编译 board_xy 文件时，SCALE 和 UNITS 值将用于将所有单位转换为第十密耳，以生成 board_xy.o 文件。当与 NODE 关键词一起使用时，EXTRAS 关键词声明与该节点相关的额外探针位置，但不与器件引脚相关。

2026-01-22 12:25:50 1071

原创 3070文件格式--7--boardxy文件格式详解 1

本章描述了 board_xy 文件的结构和语法。该文件包含待测电路板的 X-Y 数据，例如器件引脚和探针的位置。i3070 电路测试软件使用 board_xy.o 文件中的 X-Y 数据生成 fixture.o 文件。测试生成过程使用 board_xy.o 文件的节点和位置规格。不描述可选测试功能（如面板测试）的 board_xy 文件语句。请参阅您要使用的测试方法的文档。不要使用 vi 等 shell 编辑器编辑电路板测试文件。这些编辑器不会更新 i3070 程序使用的文件头信息，例如时间戳。

2026-01-18 19:39:03 769

原创 3070文件格式--6--board文件格式详解 6

如果要添加 DISABLING INFORMATION 区块，必须将其放置在board文件的最后一个区块中，在 END 语句之前。禁用信息指定board上零件、引脚或节点在单个测试或一组测试中的调节或禁用。预处理将引脚、节点或零件设置为某个特定状态，并保持在该状态，以最小化其对被测零件的影响。您可以指定禁用或调节board上任意位置的整个零件，以对待测零件进行预处理。您可以指定禁用或调节一个节点或面向节点零件的节点列表。每个节点的预处理信息在零件的测试中定义。每个引脚的预处理信息在零件的测试中定义。

2026-01-17 20:51:32 595

原创 3070文件格式--5--board文件格式详解 5

另一种引脚列表称为悬空引脚（没有连接到任何东西），可以附加在 CONNECTIONS 块的末尾。悬空引脚是编译器发现的未被定义为未连接或已连接的引脚。如果board转换器（例如 translate cad）无法找到引脚的连接定义，该引脚即被定义为悬空引脚。悬空引脚被视为未连接引脚。如果没有引脚名称映射表，且引脚名称无效，编译器会为每个无效引脚名称生成错误。任何未连接的引脚必须在board文件的零件和连接部分之前声明。任何未被定义为连接的引脚或未连接的引脚（悬空引脚）在其节点中显示为空字符串 (“”)。

2026-01-15 09:44:12 585

原创 3070文件格式--4--board文件格式详解 4

这是一个用于尚未通过器件定义定义的零件的临时区域。在编译board文件之前，必须解决未定义的零件。语法UNDEFINED指定在连接语句中引用但尚未由器件定义定义的零件名称。示例UNDEFINEDU11 NT;CR4 NT;

2026-01-14 00:03:26 911

原创 3070文件格式--3--board文件格式详解 3

器件定义提供关于board上零件的信息。每个零件都有自己的定义。相同类型的组件按零件类型的关键词进行分组。每个器件定义包含的信息包括该组件的名称或标识、其值、公差或高低值（如适用）以及其他各种测量参数。器件定义中还可能有部件号和信息零件。信息是故障信息，如果零件故障，会在报告零件上报告。在器件定义关键词下的每个组件零件必须以分号 (😉 结束。引用标识符上的引号 (") 是可选的。参考设计符号用于标识零件或零件引脚。

2026-01-11 09:58:37 994

原创 3070文件格式--2--board文件格式详解 2

在 Mux 系统中，如果您的board配置文件中同时包含这两种卡，那么您可以指定一个卡的优先级用于分配 GP 继电器。请注意，如果从 Mux 系统迁移的测试夹具实际上使用了 AccessPlus 卡，则在没有显著更改布线的情况下，将无法在 UnMux 系统上运行。电源点选项可以包含两个部分：一个是电源节点的列表，另一个是电源点的列表。电平选项针对全局测试，也就是说，如果在测试里面没有另外定义引脚用到的Family，那么用的就是Board文件中定义的Family属性。以下是在 BCF 中使用的全局选项；

2026-01-07 20:16:34 838

原创 3070文件格式--1--board文件格式详解 1

本章描述了board文件中board配置格式（BCF）语法的结构。board文件包含待测board上器件的描述、它们的互连关系以及测试和夹具选项。本章未描述一些可选的board文件语句。这些语句在使用诸如 Keysight PanelTest 的测试选项时可用。关于这些语句的信息，请参阅测试选项的文档。您不应使用 vi 等 shell 编辑器编辑board测试文件。这些编辑器不会更新 i3070 程序使用的文件头信息，例如时间戳。相反，应该使用 BT-Basic 编辑器来编辑board测试文件。

2026-01-07 00:46:31 898

原创 ICT测试日志 --5--日志记录的格式下

该记录包含设备列表，这些设备在相应测试中被指认为潜在故障或已知故障，并在日志级别设置为指控（或更高级别）时生成。例如，与特定测试相关的@RPT记录可能出现在与不同测试相关的@BLOCK记录中。该记录由语句记录，该语句可选择性记录组件的标称值及其高低限值。当引脚日志记录生效时，其后紧跟一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，其后跟随一个包含附加信息的子记录。该记录包含测试语句的结果。其后跟随一个或多个子记录，这些子记录包含一个引脚列表。子记录：在记录引脚以列出故障设备引脚时生成 @DPIN。

2025-12-26 22:03:36 767

原创 ICT测试日志 --4--日志记录的格式中

格式：{@BATCH|被测单元类型|被测单元类型修订|夹具ID|测试头编号|测试头类型|测试步骤|批次ID|操作员ID|控制器|测试计划ID|测试计划修订|父面板类型|父面板类型修订}格式：{@BTEST|电路板ID|测试状态|开始日期时间|持续时间|多重测试|日志等级|日志集|学习|已知良好|结束日期时间|状态限定符|电路板编号|父面板ID}格式：{@ALM|报警类型|报警状态|检测时间|电路板类型|电路板版本|报警限值|检测值|控制器|测试头编号}它用于识别在@ALM记录中描述的引发实时报警的电路板。

2025-12-25 22:36:16 1032

原创 ICT测试日志 --3--日志记录的格式上

当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。子记录：在记录限值信息时生成@LIM3。

2025-12-24 07:37:34 826

原创 ICT测试日志 --2--解释日志记录

log” 和 “log using” 语句分别允许您以自由字段和图像格式创建用户定义的日志记录。用户定义的日志记录可以模拟现有日志记录，也可以从头开始创建以用于自定义应用（这需要自定义例程来处理非标准日志记录）。

2025-12-23 20:05:51 921

原创 ICT测试日志 --1--数据结构

测试数据以一系列格式化的记录形式存储在文件中，这些记录称为日志记录。每个记录由一个表示信息的字符串组成。由于记录需要由程序读取和解释，因此每个记录中的字符按照精确的格式排列。如果您希望解释现有的日志记录或从头生成自己的日志记录，则必须熟悉这些格式。由于日志记录只是ASCII字符的字符串，您可以将日志记录文件加载到BT-Basic工作区中进行检查。或者，如果您熟悉shell，也可以使用more命令或编辑器（如vi）来检查日志记录。有关日志文件的位置，请参见数据记录文件的结构。

2025-12-22 18:48:40 1067

原创高级边界扫描 --10-- 开发自定义测试

在初始测试开发期间（推荐）测试开发后：常规测试测试开发后：具有特殊资源需求的测试本章介绍了如何在非多路复用系统上根据您的测试需求开发自定义的边界扫描测试。

2025-11-29 17:54:22 817

原创高级边界扫描 --9-- 边界扫描工具

边界扫描链中每个设备的边界寄存器连接在一起，而这个边界寄存器链中的数据模式称为帧。当帧单元中的数据与帧的预期数据不同时，称该帧单元在该帧上失败，帧被称为故障帧。预测/实际列中的每个单元代表一个不同的帧。使用显示菜单中的“失败时驱动的设备”和“失败时接收的设备”选项查找怀疑导致故障的设备。链查看器展示了InterconnectPlus软件如何查看电路板上的边界扫描链，还展示了链中设备的边界扫描连接信息。汇总 - 窗口底部的汇总区域显示您正在调试的测试名称��帧单元总数、通过的帧单元数和未通过的帧单元数。

2025-11-28 21:12:27 781

原创高级边界扫描 --8-- 使用TAP控制器状态图

在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。您可以使用mspd.log文件开发您的边界扫描测试。因为链中每个设备总是处于相同的状态，因此从一个状态移动到另一个状态所需的矢量不必为链中的每个设备生成。每当您调用链列表表单时，即使您决定取消表单，也会为链中的每个设备写入矢量。

2025-11-22 22:28:16 716

原创高级边界扫描 --7-- 多芯片扫描端口

当您使用边界扫描软件为您的边界扫描设备链开发自定义测试时，您将使用多芯片扫描端口驱动器（MSPD）软件。MSPD使用的大多数功能与SPD软件相同。因此，本章仅讨论这两款软件之间的差异以及MSPD在链测试中的具体应用。这是与InterconnectPlus软件一起使用的接口，InterconnectPlus是i3070在线测试系统的可选高级边界扫描产品。

2025-11-16 23:57:48 1007

原创高级边界扫描 --6-- Silicon Nail测试调试

这些文件是u5.itl（ITL文件）和u5.vtf（VCL文件）。常规的备份方案允许所有文件的多个副本，包括itl和vcl中间文件。如果将额外的节点添加到ITL和VCL文件中，应修改夹具文件，以确保不会使用或将来使用添加节点时出现的任何资源冲突。如果以类似于数字源文件的方式修改ITL文件，您将得到一个对测试该设备毫无用处的Silicon Nail测试。如文件所示，节点U3-6是无法访问的。示例6-6和示例6-7展示了文件被分离后（shell命令）文件的样子。示例6-5展示了为该设备生成的ITL文件的样子。

2025-11-16 17:43:31 1014

原创高级边界扫描 --5-- Silicon Nail集群测试

从概念上看，似乎两个特殊类别应该相似，即Silicon Nail应像当前的边界扫描InterconnectPlus模型（图6-8和图6-10）那样运行，或者边界扫描Interconnect应像当前的Silicon Nail模型（图6-7和图6-9）那样运行。Silicon Nail的特殊文档将短语“其连接设备的边界扫描测试”更改为“连接设备的Silicon Nail测试”。请记住，您必须包含所有的禁用和节点信息。您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样分配，测试将被添加到最终的测试计划中。

2025-11-14 18:30:06 511

原创高级边界扫描 --4-- 使用Silicon Nail测试

您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样被分配，并且测试将被添加到最终的测试计划中。在Silicon Nail测试中生成的 pcf 值的顺序是基于用于生成测试的库源代码中 assign 语句的顺序。当生成Silicon Nail测试时，MSPD会编写测试，以便Silicon Nail节点（硅节点）的测试与分配有物理探针的节点（探针节点）的测试协调进行。在重新排序的代码中，pcf 语句中的值与两个源中的值相同。在示例6-3中的库源代码中，pcf 顺序与库文件中的 assign 语句的顺序相同。

2025-11-14 17:20:17 987

原创高级边界扫描 --3-- 什么是Silicon Nail测试

Silicon Nail测试使用边界寄存器单元来替代物理探针或节点。Silicon Nail是指使用边界寄存器单元来替代节点上的物理探针。边界寄存器单元充当驱动器和接收器，如图6-1所示。边界扫描设备之间的设备通常是一个非边界扫描部分或一个小型集群。如果存在物理探针，则Silicon Nail测试将不允许您使用Silicon Nail来替代该探针。Silicon Nail会为具有库的数字设备自动生成测试，但您也可以选择手动编写Silicon Nail测试以适应其他情况。手动调整在线测试库。

2025-11-13 10:57:39 1579

JTAG可测试性设计指南

WeDo2,MAKER

zadig version:2.9

空空如也