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RSS订阅原创 ICT测试日志 --5--日志记录的格式 下
该记录包含设备列表，这些设备在相应测试中被指认为潜在故障或已知故障，并在日志级别设置为指控（或更高级别）时生成。例如，与特定测试相关的@RPT记录可能出现在与不同测试相关的@BLOCK记录中。该记录由语句记录，该语句可选择性记录组件的标称值及其高低限值。当引脚日志记录生效时，其后紧跟一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，其后跟随一个包含附加信息的子记录。该记录包含测试语句的结果。其后跟随一个或多个子记录，这些子记录包含一个引脚列表。子记录：在记录引脚以列出故障设备引脚时生成 @DPIN。
2025-12-26 22:03:36
619
原创 ICT测试日志 --4--日志记录的格式 中
格式：{@BATCH|被测单元类型|被测单元类型修订|夹具ID|测试头编号|测试头类型|测试步骤|批次ID|操作员ID|控制器|测试计划ID|测试计划修订|父面板类型|父面板类型修订}格式：{@BTEST|电路板ID|测试状态|开始日期时间|持续时间|多重测试|日志等级|日志集|学习|已知良好|结束日期时间|状态限定符|电路板编号|父面板ID}格式：{@ALM|报警类型|报警状态|检测时间|电路板类型|电路板版本|报警限值|检测值|控制器|测试头编号}它用于识别在@ALM记录中描述的引发实时报警的电路板。
2025-12-25 22:36:16
909
原创 ICT测试日志 --3--日志记录的格式 上
当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。子记录：在记录限值信息时生成@LIM3。
2025-12-24 07:37:34
726
原创 ICT测试日志 --2--解释日志记录
log” 和 “log using” 语句分别允许您以自由字段和图像格式创建用户定义的日志记录。用户定义的日志记录可以模拟现有日志记录，也可以从头开始创建以用于自定义应用（这需要自定义例程来处理非标准日志记录）。
2025-12-23 20:05:51
830
原创 ICT测试日志 --1--数据结构
测试数据以一系列格式化的记录形式存储在文件中，这些记录称为日志记录。每个记录由一个表示信息的字符串组成。由于记录需要由程序读取和解释，因此每个记录中的字符按照精确的格式排列。如果您希望解释现有的日志记录或从头生成自己的日志记录，则必须熟悉这些格式。由于日志记录只是ASCII字符的字符串，您可以将日志记录文件加载到BT-Basic工作区中进行检查。或者，如果您熟悉shell，也可以使用more命令或编辑器（如vi）来检查日志记录。有关日志文件的位置，请参见数据记录文件的结构。
2025-12-22 18:48:40
890
原创 高级边界扫描 --10-- 开发自定义测试
在初始测试开发期间（推荐）测试开发后：常规测试测试开发后：具有特殊资源需求的测试本章介绍了如何在非多路复用系统上根据您的测试需求开发自定义的边界扫描测试。
2025-11-29 17:54:22
759
原创 高级边界扫描 --9-- 边界扫描工具
边界扫描链中每个设备的边界寄存器连接在一起，而这个边界寄存器链中的数据模式称为帧。当帧单元中的数据与帧的预期数据不同时，称该帧单元在该帧上失败，帧被称为故障帧。预测/实际列中的每个单元代表一个不同的帧。使用显示菜单中的“失败时驱动的设备”和“失败时接收的设备”选项查找怀疑导致故障的设备。链查看器展示了InterconnectPlus软件如何查看电路板上的边界扫描链，还展示了链中设备的边界扫描连接信息。汇总 - 窗口底部的汇总区域显示您正在调试的测试名称��帧单元总数、通过的帧单元数和未通过的帧单元数。
2025-11-28 21:12:27
696
原创 高级边界扫描 --8-- 使用TAP控制器状态图
在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。您可以使用mspd.log文件开发您的边界扫描测试。因为链中每个设备总是处于相同的状态，因此从一个状态移动到另一个状态所需的矢量不必为链中的每个设备生成。每当您调用链列表表单时，即使您决定取消表单，也会为链中的每个设备写入矢量。
2025-11-22 22:28:16
661
原创 高级边界扫描 --7-- 多芯片扫描端口
当您使用边界扫描软件为您的边界扫描设备链开发自定义测试时，您将使用多芯片扫描端口驱动器（MSPD）软件。MSPD使用的大多数功能与SPD软件相同。因此，本章仅讨论这两款软件之间的差异以及MSPD在链测试中的具体应用。这是与InterconnectPlus软件一起使用的接口，InterconnectPlus是i3070在线测试系统的可选高级边界扫描产品。
2025-11-16 23:57:48
946
原创 高级边界扫描 --6-- Silicon Nail测试调试
这些文件是u5.itl（ITL文件）和u5.vtf（VCL文件）。常规的备份方案允许所有文件的多个副本，包括itl和vcl中间文件。如果将额外的节点添加到ITL和VCL文件中，应修改夹具文件，以确保不会使用或将来使用添加节点时出现的任何资源冲突。如果以类似于数字源文件的方式修改ITL文件，您将得到一个对测试该设备毫无用处的Silicon Nail测试。如文件所示，节点U3-6是无法访问的。示例6-6和示例6-7展示了文件被分离后（shell命令）文件的样子。示例6-5展示了为该设备生成的ITL文件的样子。
2025-11-16 17:43:31
964
原创 高级边界扫描 --5-- Silicon Nail集群测试
从概念上看，似乎两个特殊类别应该相似，即Silicon Nail应像当前的边界扫描InterconnectPlus模型（图6-8和图6-10）那样运行，或者边界扫描Interconnect应像当前的Silicon Nail模型（图6-7和图6-9）那样运行。Silicon Nail的特殊文档将短语“其连接设备的边界扫描测试”更改为“连接设备的Silicon Nail测试”。请记住，您必须包含所有的禁用和节点信息。您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样分配，测试将被添加到最终的测试计划中。
2025-11-14 18:30:06
464
原创 高级边界扫描 --4-- 使用Silicon Nail测试
您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样被分配，并且测试将被添加到最终的测试计划中。在Silicon Nail测试中生成的 pcf 值的顺序是基于用于生成测试的库源代码中 assign 语句的顺序。当生成Silicon Nail测试时，MSPD会编写测试，以便Silicon Nail节点（硅节点）的测试与分配有物理探针的节点（探针节点）的测试协调进行。在重新排序的代码中，pcf 语句中的值与两个源中的值相同。在示例6-3中的库源代码中，pcf 顺序与库文件中的 assign 语句的顺序相同。
2025-11-14 17:20:17
929
原创 高级边界扫描 --3-- 什么是Silicon Nail测试
Silicon Nail测试使用边界寄存器单元来替代物理探针或节点。Silicon Nail是指使用边界寄存器单元来替代节点上的物理探针。边界寄存器单元充当驱动器和接收器，如图6-1所示。边界扫描设备之间的设备通常是一个非边界扫描部分或一个小型集群。如果存在物理探针，则Silicon Nail测试将不允许您使用Silicon Nail来替代该探针。Silicon Nail会为具有库的数字设备自动生成测试，但您也可以选择手动编写Silicon Nail测试以适应其他情况。手动调整在线测试库。
2025-11-13 10:57:39
1503
原创 高级边界扫描 --2-- 测试与调试
在图5-5的示例中，注意只能接触到六个点：GND和VCC节点，以及两个表面贴装电容器的两个端子。这导致许多良好的IC也被进行了修理，增加了成本。如果从VCC或Ground测量电阻时显示一个不稳定且不断增加的电阻读数，则可能是节点短路到对面的GND或VCC节点，导致GND/VCC的旁路充电，而接触的节点（VCC或GND）没有短路。在执行1149.6测试时，1149.6芯片中有一个预加载了称为迟滞签名的唯一签名的存储器。在调试过程中，如果遇到迟滞存储器匹配，结果将会在边界扫描调试窗口中突出显示（图5-4）。
2025-11-13 07:58:05
990
原创 高级边界扫描 --1-- IEEE标准1149.6
IEEE标准1149.6IEEE Std 1149.6定义了对IEEE Std 1149.1的扩展，以标准化边界扫描的结构和方法，确保对高级数字网络进行简单、稳健且最小侵入的边界扫描测试。现有标准无法充分解决此类网络，特别是对于交流耦合、差分或者两者兼具的网络。这项标准允许测试与IEEE Std 1149.1对传统数字网络的测试以及IEEE Std 1149.4对传统模拟网络的测试并行运行。本标准还规定了对IEEE Std 1149.1的软件和边界扫描描述语言（BSDL）的扩展，以支持新的I/O测试结构。
2025-11-12 16:11:40
760
原创 边界扫描测试原理 17 -- BSDL 11 BSDL 快速参考 下
BSDL还允许用户指定的包用于解决超出IEEE标准建立的设计应用，但仍符合标准的规则。引脚ID包括一个后续程序描述中引用的标识符、一个标识引脚使用方式的模式分配，以及一个显示引脚用于单个信号或信号组的类型分配。在这些从属语句中找到的名称必须与逻辑端口语句分配的名称匹配。该参数识别端口名称映射到的设备的物理引脚。在实体中，常量语句描述设备的逻辑端口名称和物理引脚之间的映射。end语句的标识符必须与它所终止的语句的标识符匹配。取决于语句在实体、包或包体中的位置，该语句有三种不同的使用方式。
2025-11-04 08:33:34
726
原创 边界扫描测试原理 16 -- BSDL 10 BSDL 快速参考 上
除了EXTEST和BYPASS这两个操作码名称外，操作码名称的位模式由设备设计者指定，这两个操作码名称的模式由IEEE标准1149.1强制要求。它是自由格式的，这意味着它不遵循列式组织，额外的空格用于增强可读性，不会改变语句的意义。禁用规格提供了控制单元的编号、控制单元（ccell）必须具有的值以禁用输出驱动程序，以及被禁用的驱动程序将进入的状态（结果），可以是高阻态（Z）、弱1或弱0。使用1149.1定义的测试设施进行测试时，必须确保在测试受影响的IC的TAP之前，首先设置任何合规启用条件。
2025-11-04 08:32:20
900
原创 边界扫描测试原理 15 -- BSDL 9 应用示例
单元1是一个两态输出数据单元。单元15是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的输入引脚6相关联。单元2是一个可逆单元，既可以作为输入（如果控制单元关闭了输出驱动器，这意味着单元3产生0）或作为驱动器的数据源（如果输出启用）。单元17是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的输入引脚5相关联。单元6、9和12是观察来自系统逻辑的信号的单元，与I/O引脚无关，被描述为INTERNAL单元。单元2是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的双向引脚9相关联。
2025-11-02 22:43:15
776
原创 边界扫描测试原理 14 -- BSDL 8 用户提供的 VHDL 包
对于INTERNAL的<单元上下文>，<捕获描述符>值PI本质上与X相同，因为内部单元不捕获除常数0（ZERO）、1（ONE）或先前移入的值（CAP、UPD或PO）以外的任何内容。<用户包体>中的<单元描述常量>的<单元名称>值必须与<用户包>中的<延迟常量>的<单元名称>值匹配，其中<用户包体>和<用户包>指定相同的<用户包名称>。在单个<捕获描述符列表>中，没有<单元上下文>值和<捕获指令>值的组合出现超过一次。<用户包>中的<用户包名称>的值必须与<用户包体>中的<用户包名称>的值相匹配。
2025-11-01 16:20:23
870
原创 边界扫描测试原理 13 -- BSDL 7 标准 VHDL 包 STD_1149_1_2001
组件设计者可能知道一些情况，在这些情况下，组件的系统使用可能被边界扫描功能破坏并导致电路问题。作为一个简单的例子，一个组件可能具有动态系统逻辑，需要时钟驱动来保持其状态。因此，在将组件从系统模式切换到INTEST测试模式时，必须保持时钟驱动。可以为DESIGN_WARNING属性分配一个字符串消息，以提醒未来的用户潜在的问题。以下是标准 VHDL 包 STD_1149_1_2001 的完整内容。这个警告仅用于特定应用的显示目的。它是一个没有特定语法的任意长度的文本消息，不用于软件分析。
2025-11-01 07:22:50
137
原创 边界扫描测试原理 12 -- BSDL 6 INTEST 描述
出现在<扩展定义>中<扩展名称>元素值中的任何<VHDL标识符>必须作为<扩展名称>元素的值出现在早于给定<扩展定义>的BSDL描述或给定VHDL包中的<扩展声明>中。如果<扩展声明>出现在VHDL包中，则BSDL描述中相应<扩展定义>的出现必须被视为在给定<扩展声明>之后出现。<扩展定义>必须出现在相应的<扩展声明>之后。当选择 INTEST 指令时，如何将测试模式应用于组件（组件时钟脉冲的来源以及测试逻辑必须保持在 Run-Test/Idle 控制器状态的时间，以允许执行每个应用的测试）。
2025-10-31 21:55:43
813
原创 边界扫描测试原理 11 -- BSDL 5 RUNBIST描述
此持续时间可以用绝对时间表示（例如，由内部生成的时钟驱动的设备），或者更常见的是用TCK和/或系统时钟的时钟周期数表示。元素的值中的位数必须等于<寄存器访问描述>的<寄存器关联>元素中<寄存器>元素的<整数>值中显式定义的位数，其中RUNBIST是<指令名称>元素的值。在示例2-32中，设备需要在Run-Test/Idle控制器状态中等待足够长的时间以应用23000个TCK的时钟周期。在<边界寄存器语句>的<单元规格>中出现为<端口ID>的值，其中<功能>元素的值为CLOCK。
2025-10-30 21:43:06
878
原创 边界扫描测试原理 10 -- BSDL 4 边界扫描寄存器描述
出现在<单元规格>中的任何<端口ID>的<端口名称>必须出现在<逻辑端口描述>中；并且，如果<单元规格>中的给定<端口ID>是一个<带下标的端口名称>，它的<下标>必须在<逻辑端口描述>中<引脚规格>元素中的<范围>元素的范围之内，在该<带下标的端口名称>的<VHDL标识符>作为<端口名称>元素的一个值出现。<单元规格>中任何不是<带下标的端口名称>的<端口ID>元素的值必须是在<逻辑端口描述>中<引脚规格>的<标识符列表>元素中的<端口名称>，使得<引脚规格>中的<端口尺寸>元素的值为bit。
2025-10-29 10:55:03
1075
原创 边界扫描测试原理 9 -- BSDL 3 指令寄存器描述
也就是说，如果存在两个<操作码描述>元素和两个<模式>元素，其中一个在这两个<操作码描述>元素中的每一个中出现，则这两个<模式>元素必须在某个字符位置上有所不同，并且在该位置上两者都不包含字符X。SAMPLE和PRELOAD的操作码必须被定义，每个的<操作码描述>中必须分别使用SAMPLE和PRELOAD作为<指令名称>元素的值。寄存器需要支持某些指令。所有其名称作为<寄存器字符串>中任何<指令捕获>元素的<指令名称>元素值的指令，必须作为<指令名称>元素出现在<指令操作码语句>中的<操作码描述>元素中。
2025-10-29 06:54:57
1071
原创 边界扫描测试原理 8 -- BSDL 2 声明
<标准使用声明>标识了一个标准VHDL包，其中定义了将在本指南其他地方引用的属性、类型、常量和其他元素。标准使用声明的形式如下：示例 2-7标准使用声明语法<标准VHDL包标识符>是包含要包括的信息的标准VHDL包的名称。后缀.all表示VHDL包中的所有声明都将被使用。在处理BSDL描述的i3070测试系统中，标准VHDL包可能是文件系统中某个地方的一个文件。.all后缀对VHDL有意义，并不是文件名的一部分。虽然VHDL允许使用更广泛范围的后缀，但在BSDL中.all是唯一允许的后缀。标准VHDL包的
2025-10-28 09:31:02
963
原创 边界扫描测试原理 7 -- BSDL 1 概述
本章描述了如何使用IEEE标准1149.1-2001 BSDL。本章中的信息来源于或转载自IEEE Std. 1149.1-2001，IEEE标准测试接入端口与边界扫描架构，版权©2001归属电气电子工程师学会（IEEE）。IEEE不承担对本出版物中的内容和使用所导致的任何责任。信息转载经IEEE许可。IEEE 1149.1和BSDL的历史1149.1标准最初由IEEE于1990年发布。从那时起，一个行业临时小组开始开发BSDL的一个版本，后来由IEEE接手进行最终开发。该标准本身经历了若干次修订。
2025-10-28 09:29:45
968
原创 边界扫描测试原理 6 -- TAP控制器状态
本节简要描述了TAP控制器在每个控制器状态中的行为。表1-2显示了TAP控制器如何根据TMS（测试模式选择）的逻辑电平从一个状态转换到另一个状态。变化仅在测试时钟（TCK）的上升沿施加时发生。表1-2TAP控制器状态变化摘要当TAP控制器处于此状态时如果TMS为高（1），TAP控制器改变为：如果TMS为低（0），TAP控制器改变为：选定的测试数据寄存器是否保留其先前状态？当前指令在TAP控制器处于此状态时会更改吗？指令寄存器是否保留其状态？Test-Logic否不适用否。
2025-10-27 12:28:06
777
原创 边界扫描测试原理 5 -- 测试功能
图1-21展示了如何设置边界扫描链中一个设备的一个输出，将信号传播到下一个设备并在输入单元上锁存信号，然后扫描结果到TDO进行检查。与INTEST一样，信号通过边界寄存器进出内部逻辑，并且由于设备输入和输出引脚不活动，设备实际上是隔离的。当数据位流入设备时，它们通过边界寄存器的输入单元，然后通过内部逻辑，再通过边界寄存器的输出单元，最后流出设备。SAMPLE/PRELOAD是一条执行两个功能的指令：它允许您获取组件正常操作的样本，并在边界寄存器单元的锁存并行输出上放置一个初始数据模式。
2025-10-27 07:39:02
580
原创 边界扫描测试原理 4 -- 保持状态
自定义测试ITL文件用于向MSPD描述链结构和禁用方法。节点块会被忽略，因为所有的编程操作都是基于寄存器的且来自SPD。节点块中包含的任何保持语句都将被忽略。在使用自定义测试时，如果选择节点上有针脚，可以实现保持状态。
2025-10-26 21:42:36
787
原创 边界扫描测试原理 3 -- 操作模式和指令
在测试操作模式下，单个边界寄存器单元路由输入和输出信号，使得设备的核心逻辑基本上忽略输入和输出。边界扫描设备可以在两种基本模式之一下操作：正常模式，即设备执行其主要功能的模式；在正常模式下，可以执行SAMPLE/PRELOAD、BYPASS、IDCODE、USERCODE和可能的制造商提供的功能。SAMPLE必须在正常模式下执行，因为顾名思义，测试在特定时间点对设备中存在的数据进行采样。在测试模式中，您可以执行EXTEST、INTEST、RUNBIST以及制造商定义的功能，这些功能用于模拟或扩展这些测试。
2025-10-26 12:24:51
716
原创 边界扫描测试原理 2 -- 边界扫描测试设备的构成
在图1-8中，标记为输入引脚（Input Pin）和内置逻辑（Internal Logic）的引脚是来自设备引脚的并行输入。）标记为移入（Shift In）和移出（Shift Out）的引脚是边界寄存器的串行输入和输出。请注意，该图显示了一个从链中提取的边界寄存器单元，并放置在图的左下角的小图中。一个16状态的机器，由测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）输入编程，控制数据位流向指令寄存器和数据寄存器。TDI为移入指令寄存器的测试指令提供串行输入，并为通过边界寄存器或其他数据寄存器的数据提供串行输入。
2025-10-21 23:22:48
876
原创 ICT 数字测试原理 31 - - X-Tree测试
定义X-Tree数字库所需的信息在设备的数据表中提供。链的信息定义了设备中存在多少个可测试性结构，每个结构测试的引脚的依赖顺序列表，以及其他可能影响测试或覆盖的信息，例如不可测试的引脚列表。从测试生成的角度看，X-Tree设备的测试也以类似于标准数字设备测试的方式整合到板测试中。部件描述库被定义为引用一个或多个X-Tree数字库，以识别正确生成测试矢量和测试模式下设备引脚的操作所需的测试结构类型信息。从测试开发的角度来看，X-Tree设备的测试以类似于标准数字设备测试的方式整合到板测试中。
2025-10-19 17:37:00
915
原创 ICT 数字测试原理 30 - - 测试非易失性存储器
注意，非分段矢量在整个过程中保留在内存中并按适当的顺序执行，当一个矢量段被下载时。如果测试的分段部分中有计数器，则最终的分段数必须是2的幂（例如，2048 + 512）。在一个段的通过期间，计数器必须按2的幂进行计数。正如在矢量控制语言（VCL）中所解释的，已编译的矢量会通过算法压缩，以便可以在RAM中保存非常大的矢量集。如常，驱动或接收数组元素的矢量也会执行在测试的矢量定义部分为该矢量指定的任何其他状态。文件中的地址必须安排好，以便从文件中读取的每组（字节宽度）字节中，第一个字节必须具有适当的地址。
2025-10-19 13:42:50
1136
原创 ICT 数字测试原理 29 - -使用PCF的要求
由于测试系统处理的是实际电路，因此必须手动将初始化矢量添加到VCL测试中，以将电路带到模拟器假设的状态。旨在验证器件引脚的AC和DC参数的测试在器件加载到电路中之前很少能用于在电路内测试系统上测试相同的器件。设计人员不关注生产中常见的故障——他们专注于生产环境中经常无关紧要的问题，如发现设计逻辑中的故障，以及分析最坏情况下的时序关系以确保信号能够正确地通过电路传播。如果您使用标准矢量时序，则一个管道深度的矢量执行（12或14，取决于您的系统）填充管道。在调试中，您会看到的矢量比管道能容纳的矢量少一个。
2025-10-18 21:29:46
955
原创 ICT 数字测试原理 28 - -如何在测试中使用PCF
（声明）当执行VCL测试时，PCF矢量将状态驱动至预定义的一个或多个PCF引脚集，并从其中接收状态。在测试的声明部分，语句指定哪些引脚组包含在PCF引脚集中。当执行一个PCF矢量时，其状态从左到右应用于PCF集中按照分配顺序排列的引脚。每组矢量必须与一组PCF引脚相关联。使用某一个PCF引脚集的PCF矢量必须长度相同，并且必须包含该集中声明的每个PCF引脚的一个状态。在整个VCL测试中，引脚/状态顺序保持不变。示例3-10展示了如何在测试中分配PCF引脚，该测试只有一组PCF引脚。
2025-10-18 21:28:31
1045
原创 ICT 数字测试原理 27 - -PCF(Pattern Capture Format) （模式捕获格式）
本节介绍了PCF格式；下一节“将PCF矢量集成到测试中”将解释如何在VCL测试中使用PCF模式。简单来说，一个矢量由两类状态组成：驱动状态和接收状态。驱动状态是要并行发送到被测电路输入端的状态（位）。接收状态定义了预期的响应；也就是说，测试系统期望从电路的输出端并行接收到的状态集合，以响应该矢量的驱动状态。一个模式集由一系列矢量组成，按照它们在集合中出现的顺序应用于电路。然而，模式集中通常包括循环和分支指令，以改变矢量的执行顺序。集合中还可以包含时间信息，例如驱动和接收脉冲之间的延迟时间。
2025-10-17 08:12:02
1451
原创 ICT 数字测试原理 26 - -使用VCL进行高级测试3 定时 下
当发生等待时，等待行会在等待开始的时候检查，然后在每个后续事件（TCLK）上检查，直到接收到触发状态。在使用软件等待的测试中不分配等待线。虽然定时设置中的矢量驱动和接收可以以任何顺序排列，但我们建议在任何一个VCL测试中的所有定时设置中，矢量驱动和接收具有相同的相对事件顺序（事件编号可以不同）。例如，在下面的定时设置中，T1和T2具有相同的矢量驱动/接收顺序，但定时设置T3没有，因为第一个接收发生在第二个驱动之前。如果使用，你将获得意外的结果，因为等待线是在外部时钟的频率下采样的，而不是TCLK的频率。
2025-10-16 07:50:48
1067
原创 ICT 数字测试原理 25 - -使用VCL进行高级测试3 定时 上
定时设置放置在VCL测试的定时部分中。它们控制格式化驱动器和接收器信号的时序，以及应用于被测板的矢量的时序。一个定时设置控制一个或多个格式化的驱动器和接收器，以及格式化的双向引脚。每次执行定时设置时，定时设置中定义的状态序列会应用于被测板。在测试执行期间，每当使用定时设置时，该定时设置中定义的所有状态序列都会发生。定时设置还控制应用于板的矢量的驱动和接收时间。测试中的每个矢量都必须通过使用定时设置语句与特定的定时设置相关联。一个VCL测试中可以有任意数量的定时设置，且它们可以有不同的长度。
2025-10-16 06:52:20
794
原创 ICT 数字测试原理 24 - -使用VCL进行高级测试2 时序
如果您的测试只使用PCF向量，则不需要向量定义部分。在Mux系统上，使用定时设置语句为每个需要的向量定义添加对定时设置的引用。撰写向量执行部分向量执行部分基于前面部分中定义的资源、向量和定时设置以及本节中的任何PCF向量，控制测试的流程。在该部分，您的任务是安排语句以正确的顺序执行向量，并在需要时纳入PCF向量。要完成此部分，您需要了解定时设置和向量的关系、向量在管道中对归位循环的影响以及如何将PCF向量纳入测试中。请参见PCF（模式捕获格式）向量和管道。VCL语句。
2025-10-15 07:47:22
897
原创 ICT 数字测试原理 23 - -使用VCL进行高级测试1
声明向量定义向量执行高级测试软件增加了一个部分，即时序部分。声明时序向量定义向量执行声明、向量定义和向量执行部分与之前相同，只是现在与它们关联的语句更多。时序部分包含控制测试信号时序的语句。以下部分描述如何使用高级功能编写VCL测试，列出了VCL语句并将语句与本章中的主题交叉引用。VCL测试部分VCL语句。
2025-10-15 07:42:46
401
JTAG可测试性设计指南
2024-10-05
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2024-07-06
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