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RSS订阅原创 ATE API：ON_FIRST_INVOCATION并测控制
对于使用ON_FIRST_INVOCATION有一个原则：支持所有SITE器件相同的操作，而每只器件不同的操作就不能放在该模块内，如：相同的电源控制、基于PPMU的各信号引脚的设置，以及执行等。不能放在该模块中的，如：对各SITE的测试判定TEST()，不同SITE可能有不同的测试值或结果，因此需要每个site分别作判定，就不能并测,除此外还有LIMITE（）、TESTSET()成员函数“judgeAndLog”等也不能用于其中。
2023-03-17 08:24:43
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原创 测试API：基于 DPS_TASK 的功耗测试示例
DC测试中，功耗测试几乎是所有项目必测项，要使用 ATE 实现功耗测试，需要先完成对电源引脚电流的测试，再通过公式：P=U*I，计算出功耗值。当有多个电源时，分别计算各引脚的功耗，然后将所有电源引脚功耗求和实现总功耗的计算。从上述测试方法可以看出，最重要的步骤是各电源引脚“电流”测试，在获得电流测试值后即可通过公式计算出功耗。在 v93000 机台，电流引脚 “电流”测试通过“DPS TASK” 来完成，示例如下：//定义DPS TASK 类的对象 dps_taskDPS_TASK dps_ta
2023-01-18 18:26:25
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原创 ATE API：DPS_TASK概述
上一节介绍了ATE测试程序的基本结构，知道run（）是执行测试的内容，在模板中这部分内容就是需要根据测试任务来实现的代码。编写数字电路测试程序时，最常见的是基于电源（DPS）、数字通道（PPUM）和功能（function）的测试，在编写这几种类型测试程序时，会用到SmarTest的专用API，本节将介绍基于电源DPS的测试API:DPS_TASK。DPS_TASK在DC测试中应用十分广泛，只要涉及到对电源引脚的测试，几乎都会用到这个API。编写测试程序时，基于DPS_TASK创建对象，利用它的成员函
2023-01-17 08:19:34
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原创 ATE TM：V93000程序基本结构
ATE TM：V93000程序基本结构对于V93000芯片程序开发，如果遇到一些特殊测试要求，smartest自带程序库已不能满足测试要求时，开发工程师编写TM就是一种有效解决方法。TM（test method）测试方法的意思，在V93000机台它是基于C++编写的程序代码。在TM创建时，首先在Device 文件并行的路径下新建“XXX_tml”的文件夹，然后该文件夹里创建“Test Method Project”,在该测试方法工程里建立“test method class”。在ATE测试程序中，每一
2023-01-16 08:16:45
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原创 ATE DPS参数：ATE DPS电压、电流控制参数
V93000 ATE电源引脚在Level Equation设置时会使用到两项最重要的参数：电压控制参数和电流控制参数。这两个参数是必须设定项，它们有什么含义，它们能用来干什么，怎样来使用？本文将进行介绍。1、电压控制参数在Level Equation设置中，电压参数是非常重要的参数，通过电压参数可以实现电压大小的设定，或电压force范围的设定。DPS引脚电压参数有两个：vout和 vout_frc_rng。1）vout：DPS电源及MS-DPS电源中均会使用到，vout表示对电源输出电压值的设
2023-01-15 08:51:55
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原创 ATE DPS参数：ATE DPS上电、断电缓急程度控制参数
V93000 ATE电源引脚在Level Equation设置时有时会用下面这一组参数：vout_rise_t_ms_per_voltvout_fall_t_ms_per_voltvout_rise_settling_t_msvout_fall_settling_t_ms这组参数不是必须设定的内容，那这一组参数是什么含义，有什么作用，怎么使用？下面将进行介绍。1、这一组参数是什么？这四个参数是DPS电源上升下降斜率及setting时间的控制参数，含义如下：1）vout_ris
2023-01-14 08:37:46
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原创 ATE DPS参数：ATE DPS的“offcurr”
V93000 ATE电源引脚在Level Equation设置时会遇到一个参数：offcurr，这是一个必须设定的参数，这个参数是什么含义，它有哪些状态，怎样来使用？本文将进行介绍。1、什么是offcurr？offcurr是英文off current state的缩写，指“断开电流状态”。这里的断开是对dps电源而言，这个参数设置的作用是：断开电源后电流状态的设定。2、offcurr有哪些状态？offcurr的状态设置有5种：act、min、open、act_min和act_open。各状态
2023-01-13 08:22:36
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原创 测试环境：一种更准确的测试环境温度监测方法
对于大功耗器件，温度对其电流等参数测试值影响很大，特别是高温，如何更准确的获取温度条件下的数据，那就需要更准确的监测和控制环境温度，下面将介绍一种更准确的监测方法。在温度条件测试时，一般情况可以采用三种方式：第一种，器件在高低温箱保存固定时间，然后取出，在一定时间范围内完成测试，获取该测试条件下的测试数据。第二种，器件在气流罩里保温固定时间，然后罩着测试，获取该测试条件下的测试数据。第三种，采用第一和第二种结合。以上方法，第一种偏差更大一点，取出后温度会发生变化，第二种在保温足够时与第三
2023-01-12 08:25:48
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原创 ATE DPS参数：ATE DPS的“t_ms”
V93000 ATE电源引脚在Level Equation设置时会遇到一个参数：t_ms，这是一个必须设定的参数，这个参数是什么含义，能用来干什么，怎样来使用？本文将进行介绍。1、什么是t_ms？从上图是ATE DPS向DUT的供电波形，在经过内部（固有）setting time后达到需要的电压值，接下来就是需要设定的t_ms，从上图可以看到t_ms是在电源最终供电前的一个时间，这个时间就是电源供电的建立时间Setup time，即在电源最终供电前的一段延迟时间。2、t_ms的有什么作
2023-01-11 08:24:09
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原创 ATE测试程序：ATE测试程序中的public、protected、private类权限
V93000测试程序是基于C++编程，V93000测试编程更偏向专用测试API和相对固定的架构编程。在V93000机台测试程序统称为TM(test method),具体的测试项称为test class，通常它由XXX.cpp和XXXUtil.hpp组成，或者只由cpp构成。在“.cpp”中会对测试项进行定义，因为它基于类，因此它会基于class的语法格式：class 类名{访问权限： 属性； 行为；}；在测试程序“.cpp”的类定义中最常用的是：protected，在“.hpp”会用到：public
2023-01-10 08:29:34
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原创 Leakage漏电流测试：PPMU单元IFVM的三种模式（三）
Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有大三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，只有理解了这三种测试模式的运行方式，才能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，介绍三第种模式SPMUser！2、SPMUser并行测试模式SPMUser指基于SPMU Task进行串行测试，使用HPPMU进行IIL或IIH漏电流测试，设定的引脚依次进行串
2023-01-09 08:22:36
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原创 Leakage漏电流测试：PPMU单元IFVM的三种模式（二）
Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有大三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，只有理解了这三种测试模式的运行方式，才能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，介绍第二种模式PPMUser！2、PPMUser并行测试模式PPMUser指使用PPMU进行串行测试，电流测试时各引脚AC realy断开PPMU realy连接，PPM
2023-01-08 11:19:17
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原创 Leakage漏电流测试：PPMU单元IFVM的三种模式（一）
Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，理解了这三种测试模式的运行方式，能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，首先介绍第一种模式PPMUpar。1、PPMUpar并行测试模式PPMUpar指使用PPMU进行并行测试，电流测试时AC realy断开PPMU realy连接，PPMU加载低或
2023-01-07 09:03:33
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原创 ATE测试板：V93000 LB 板上MS-DPS 电源上为什么会加两电容？
在查看 V93000-LB 板原理图时，常常会看到在 MS-DPS 电源“P”与地“G”间会设计两个电容，一个容量小的电容和一个容量大的电容，这两个电容容量为多大，它们在测试中起什么作用？如上图所示，这是MS-DPS 电源，在电源VDD 端与地 GND 端设计了两个电容，一个容量为 10uA 电容，一个容量为0.1uA 电容，VDD 端与 DPS1-P-01连接，GND 端与 DPS1-G-01 连接。这两个电阻究竟有什么作用？我们知道电容有以下作用：1）大电容（10uF-100uF）滤低频
2023-01-06 08:37:16
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原创 API：测试中的CONNECT连接与DISCONNECT断开连接
对于电器设备，都有打开与关闭的控制，在芯片测试中虽然没有这样的开关，但测试系统会有打开与关闭的API来实现这样的功能。在ATE测试过程中，“CONNECT”就相当于“打开”的作用，“DISCONNECT”就相当于“关闭”的作用，但它不仅仅是打开与关闭电源，还有其它测试资源的控制，了解这两种API的具体作用，对芯片测试的控制将会有更深的理解和更灵活的应用。1、CONNECT：CONNECT指测试资源与被测器件DUT建立连接，执行这条语句时，硬件会执行以下动作：1）AC relay打开，使Driver与D
2023-01-05 08:28:32
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原创 leakage漏电流：测试遇到有上、下拉电阻的漏电流是怎样的？
芯片漏电流测试时，通常判定值为-10uA~10uA，正常测试值一般均在该范围内，但有时会发现测试值超过判定值的现象，当出现漏电流超过判定值时，可以查看产品手册或询问设计人员，芯片引脚是否有上、下 拉电阻设计。在芯片设计时，为了使芯片引脚状态处于更稳定状态，对于一些引脚高低电平状态对芯片工作影响大的引脚，会采用上、下拉电阻设计，以防止芯片上电时引脚处于不定态，从而造成芯片进入一些非期望状态。如复信号，低电平0为有效信号，那么就会设计一上拉电阻到VDD端，这样在外部输入VIL前，均处理无效的高电平1的状
2023-01-04 08:29:23
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原创 Leakage漏电流：V93K是如何执行漏电流测试？
leakage漏电流：V93K是如何执行漏电流测试？V93K ATE机台在执行漏电流测试时，是基于以下流程开展测试：1）执行CONNECT，电源上电及信号引脚进入连接状态；2）检测漏电流测试类型是否为LOW（即IIL,PMOS端漏电流），若是则执行：a）执行功能预处理测试，使Pattern运行到设定的stop 向量或周期位置；b）检测预处理是否为非“NO”，若是则获取预处理功能测试结果；c）检测测试模式是否为“PPMUpar”，若是则执行PPMU并行电流测试，并获取测试结果；d）检测测试模式是
2023-01-03 08:34:02
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原创 leakage漏电流：基于COMS管工作原理的漏电流分析
CMOS管是集成电路的基本组成单元，它由PMOS和NMOS构成，两种MOS管栅极工作电压极性相反，将两管栅极相连作为输入端，将两管漏极相连作为输出端，两管互为负载，形成互补的工作状态。如果向栅级输入高电平1时，P管截止，N管导通，CMOS输出低电平L；如果向栅级输入低电平0时，P管导通，N管截止，CMOS输出高电平H，这样就形成了反向器。CMOS管图在进行leakage漏电流测试时，会使用pattern给输入引脚预处理到一个逻辑状态,即漏电流的测试状态。IIL测试时向芯片输入引脚输出
2023-01-02 09:16:01
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原创 芯片漏电流leakage测试
漏电流是一种芯片常见测试项，常用来对输入引脚测试（含io的in状态），包括IIL和IIH输入漏电流测试，通过对输入漏电流的测试，能测试到输入端到vdd和vss端的电阻，确保满足设计要求，输入漏电流测试也是对器件是否静电损坏的重要测试项。IIL为在force低电压VSS时，测试vdd端到输入端的漏电流，此时输入端的逻辑电平为1。因为force低因此为IILIIH为在force高电压Vddmax时，测试输入端到vss端的漏电流，此时输入端的逻辑电平为0。测试时器件电源设置为vddmax，通过patt
2023-01-01 21:26:03
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空空如也
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