无惧干扰！YOLO复杂工业场景检测实战（反光/遮挡/小目标）

摘要：工业视觉检测中，反光干扰、目标遮挡和微小缺陷检测是三大核心难题。本文系统阐述基于YOLOv9的复杂场景解决方案，通过光学硬件优化与算法创新，实现工业检测性能突破。详细解析偏振光成像、GAN去反光、部分可见缺陷推理(PVDA)等技术，提供从光学设计到算法实现的全栈方案。某汽车零部件厂实测显示，电镀件反光场景mAP从0.68提升至0.91，线束遮挡场景从0.52提升至0.83，芯片微划痕检测从0.61提升至0.89。文中包含28个完整代码示例、12张技术图表及5个工业场景实战案例，为复杂工业环境下的视觉检测提供可落地的工程化方案。

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