本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种太赫兹芯片。
背景技术:
芯片是指其内含集成电路的半导体基片,是集成电路的物理载体。而半导体是一种导电性能介于导体和绝缘体之间的材料,常见的有硅、锗、砷化镓等,用于制造芯片。
集成电路产业离普通人很近又很远,大多数人只知道手机和电脑需要使用集成电路产业。然而其实各行各业里面都要用到电子器件,CPU、GPU、单片机、数控装备、汽车等都离不开芯片。
太赫兹芯片以其高频性、人体安全性、大带宽特性使其在太赫兹雷达、人体安检及高速无线通信等领域具有极大的应用价值。
然而目前的太赫兹芯片存在着芯片厚度大,抗瞬态干扰能力不强的问题。同时还存在芯片的工作频率较低,倍频混频等功能效果差的问题。
实同时用新型内容
为了克服上述技术的不足,本发明的目的是提供一种太赫兹芯片,芯片厚度小,抗瞬态干扰能力强,芯片的工作频率高,倍频混频等功能效果好。
本发明所采用的技术方案是:一种太赫兹芯片,包括三五族衬底,所述三五族衬底上方设置有外延层,三五族基片通过过渡层与外延层连接,所述外延层上表面中部设置有肖特基结,环绕肖特基结设置有氧化层,所述氧化层固定敷设在外延层的上表面上,所述氧化层与外延层之间设置有P型扩散区,所述肖特基结、P型扩散区和氧化层上均设置有电极金属。
所述三五族衬底的厚度为2.5-3.5mm。
所述外延层的厚度为16-20um,电阻率为2-3ohm.cm。
所述外延层的厚度为23-30um,电阻率为3-5ohm.cm。
所述过渡层的电阻率为0.04-0.9ohm.cm。
所述三五族衬底的电阻率为0.002-0.003ohm.cm。
所述氧化层为二氧化硅层。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:本发明所述的一种太赫兹芯片,抗瞬态干扰能力强,芯片的工作频率高,倍频混频等功能效果好,大多数三五族元素,包括铟、镓、砷以及磷,都比硅有更高的电子迁移率和禁带宽度,采用三五族材料制成的三五族衬底,有效降低了器件的串联电阻和寄生电容,使得芯片可在太赫兹频段应用,。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作详细说明。
实施例1
如图1所示,一种太赫兹芯片,包括三五族衬底1,所述三五族衬底1上方设置有外延层4,三五族基片1通过过渡层5与外延层4连接,所述外延层4上表面中部设置有肖特基结2,环绕肖特基结2设置有氧化层3,所述氧化层3固定敷设在外延层4的上表面上,所述氧化层3与外延层4之间设置有P型扩散区6,所述肖特基结2、P型扩散区6和氧化层3上均设置有电极金属。
所述三五族衬底1的厚度为2.5-3.5mm,优选为2.5mm或3 mm或3.1mm。
所述外延层4的厚度为16-20um,电阻率为2-3ohm.cm。
所述过渡层5的电阻率为0.04-0.9ohm.cm。
所述三五族衬底1的电阻率为0.002-0.003ohm.cm。
所述氧化层3为二氧化硅层。
实施例2
一种太赫兹芯片,包括三五族衬底1,所述三五族衬底1上方设置有外延层4,三五族基片1通过过渡层5与外延层4连接,所述外延层4上表面中部设置有肖特基结2,环绕肖特基结2设置有氧化层3,所述氧化层3固定敷设在外延层4的上表面上,所述氧化层3与外延层4之间设置有P型扩散区6,所述肖特基结2、P型扩散区6和氧化层3上均设置有电极金属。
所述三五族衬底1的厚度为2.5-3.5mm。
所述外延层4的厚度为16-20um,电阻率为2-3ohm.cm。
所述过渡层5的电阻率为0.04-0.9ohm.cm。
所述三五族衬底1的电阻率为0.002-0.003ohm.cm。
所述氧化层3为二氧化硅层。
实施例3
一种太赫兹芯片,包括三五族衬底1,所述三五族衬底1上方设置有外延层4,三五族基片1通过过渡层5与外延层4连接,所述外延层4上表面中部设置有肖特基结2,环绕肖特基结2设置有氧化层3,所述氧化层3固定敷设在外延层4的上表面上,所述氧化层3与外延层4之间设置有P型扩散区6,所述肖特基结2、P型扩散区6和氧化层3上均设置有电极金属。
所述三五族衬底1的厚度为2.5mm。
所述外延层4的厚度为16um,电阻率为2ohm.cm。
所述过渡层5的电阻率为0.04ohm.cm。
所述三五族衬底1的电阻率为0.002ohm.cm。
所述氧化层3为二氧化硅层。
实施例4
一种太赫兹芯片,包括三五族衬底1,所述三五族衬底1上方设置有外延层4,三五族基片1通过过渡层5与外延层4连接,所述外延层4上表面中部设置有肖特基结2,环绕肖特基结2设置有氧化层3,所述氧化层3固定敷设在外延层4的上表面上,所述氧化层3与外延层4之间设置有P型扩散区6,所述肖特基结2、P型扩散区6和氧化层3上均设置有电极金属。
所述三五族衬底1的厚度为3mm。
所述外延层4的厚度为18um,电阻率为2.5ohm.cm。
所述过渡层5的电阻率为0.5ohm.cm。
所述三五族衬底1的电阻率为0.0025ohm.cm。
所述氧化层3为二氧化硅层。
实施例5
一种太赫兹芯片,包括三五族衬底1,所述三五族衬底1上方设置有外延层4,三五族基片1通过过渡层5与外延层4连接,所述外延层4上表面中部设置有肖特基结2,环绕肖特基结2设置有氧化层3,所述氧化层3固定敷设在外延层4的上表面上,所述氧化层3与外延层4之间设置有P型扩散区6,所述肖特基结2、P型扩散区6和氧化层3上均设置有电极金属。
所述三五族衬底1的厚度为3.5mm。
所述外延层4的厚度为20um,电阻率为3ohm.cm。
所述过渡层5的电阻率为0.9ohm.cm。
所述三五族衬底1的电阻率为0.003ohm.cm。
所述氧化层3为二氧化硅层。
上述实施例以本发明技术方案为前提,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本发明的保护范围不限于上述的实施例。