零散知识学习

最新推荐文章于 2025-09-13 21:23:05 发布

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本文介绍了嵌入式系统中的质量控制概念PPM，以及循环冗余校验码CRC的作用。此外，还详细解释了芯片测试流程中的CP与FT的区别，并展示了C++中使用extern C的方式以及STM32F10X系列微控制器头文件stm32f10x.h的内容结构。

1 PPM
在品质管理中PPM是(parts per million )百万分之的缩写。
就是说每一百万个产品中的不良率的统计标准,如10PPM就是百万分之十的不良率

2 CRC
CRC即循环冗余校验码（Cyclic Redundancy Check）

3 芯片测试术语
CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer的良率。
FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率。
ＣＰ对整片Ｗａｆｅｒ的每个Ｄｉｅ来测试
而ＦＴ则对封装好的Ｃｈｉｐ来测试。
ＣＰＰａｓｓ才会去封装。然后ＦＴ，确保封装后也Ｐａｓｓ

4 extern "C"的使用方式
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif

#ifdef __cplusplus
}

#endif

5 stm32 stm32f10x.h头文件的主要结构
(1) 库函数配置
通过一些宏定义来配置不同的功能
(2) 数据类型定义
使用typedef定义一些数据类型
(3) 定义了各个外设模块寄存器的结构体
Peripheral_registers_structures
(4) 定义了各个外设模块寄存器基地址
Peripheral_memory_map
(5)定义了每个寄存器中，不同功能位的MASK
Peripheral_Registers_Bits_Definition