蓝桥杯练习(VIP)芯片测试

本文介绍了一种通过概率统计方法判断一组芯片中哪些是好芯片的算法。面对一组数量不等的好坏芯片,利用芯片间相互测试的结果,统计分析确定好芯片的编号。

题目描述

问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3


思路:既然坏芯片输出的内容跟芯片的好坏无关,我们就可以使用概率统计的方法来输出,只要被测试的芯片输出1的概率大于n/2,就可以证明芯片是好的,否则就是坏的。

#include <iostream>
using namespace std;
int main()
{
    int n;
    int i,j;
    cin>>n;
    int num[n][n];
    for(int i=0;i<n;i++)
        for(int j=0;j<n;j++)
            cin>>num[i][j];
    int cnt;
    for(j=0;j<n;j++)
   {
       cnt=0;
       for(i=0;i<n;i++)
    {
        cnt+=num[i][j];

    }
     if(cnt>n/2)
        cout<<j+1<<" ";
   }
    return 0;

}
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