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7426笨蛋的专栏

会偶尔写下一些想法和发现解决问题的过程~~

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原创 关于FPGA驱动TFT屏渐变显示出现条纹的问题解决

最近在调试一个5寸的800x480的TFT屏,由于是通用引脚的40Pin屏,引脚跟以前驱动过的4.3寸480x272的屏是一样的,所以就打开以前的工程文件,修改好参数编译下载到板子上。工程默认是显示一幅灰度渐变的画面,但在这个屏上显示的多了很多亮线,如下图所示:然后调试了整个晚上还是没有找到原因,仿真也看过了,波形也正常,直接修改后的代码驱动以前的屏幕,显示也正常没有亮线,显示数据部分

2016-06-19 13:43:03 6367

原创 关于单片机串口发送时初始发送的数据第一个总是00的问题解决

在调试STM8的串口时候,串口IO初始化,串口配置,发送数据调试~~连接好串口线后,发现初始化后发送的第一个数据总是00,后面的数据才是正常的数据。折腾了大半天,终于发现了原因了,那就是初始化串口后不能马上发送数据,要经过一定时间延迟。问题代码如下: CLK_HSIPrescalerConfig(CLK_PRESCALER_HSIDIV1);//运行在16Mhz Init_GPI

2016-05-13 16:07:37 17219

原创 解决niosII中下载提示Connected system ID hash not found on target at expected base address问题

在niosII中run as NiosII hardware后弹出的run configured窗口中,在Target Connection中提示Connected system ID hash not found on target at expected base address点刷新Refresh Connection还是一样。后来网上搜索了一番,原来是在QuartusII工

2016-05-11 22:49:07 11170 1

原创 解决提示 The node "nios_sys:nios_sys_inst|sdram:the_sdram|za_data[0]" has multiple drivers due错误

Error (13076): The node "nios_sys:nios_sys_inst|sdram:the_sdram|za_data[0]" has multiple drivers due to the non-tri-state driver "sdram_data[0]"在NiosII核中添加SDRAM控制器后,例化编译提示如上等几个错误,说一个信号被多个信号驱动什么的。经

2016-05-11 21:28:22 7548

原创 解决QuartusII编译parameter "clk0_divide_by" is not a formal parameter of instantiated module的问题

初次弄NiosII,发现在SOPC Builder里添加了SDRAM后再添加ALTPLL模块,把altpll_0名字改成altpll后产生不了软核,报错误。然后又把名字改回来altpll_0,点击产生,软件还是报错。这时候只要删掉ALTPLL模块,再重新添加,不改名字就行了。然后就能产生了。但是在QuartusII里面例化,编译时候又出错了,提示:parameter "clk0_divid

2016-05-11 20:47:44 1999

原创 OLED汇编驱动显示程序编写参考

以前很少接触过51单片机的汇编编程,因为感觉用C语言编写起来方便直观。直到最近有遇到一个客户是专注汇编的,说需要开发一个OLED模块的汇编显示范例程序,才开始一步一步接触到汇编,一边看书、网上搜索51汇编指令,一边对照着C语言的程序开始着手编写。就这样持续了几天的时间,终于调试成功显示了。就这样慢慢地开始对51汇编也有了一定的了解,学会用汇编写一些子程序,慢慢地欣赏到了汇编编写程序的精妙之处。有人

2015-05-01 14:09:22 4249

原创 自己写的一个行扫描led点阵移动显示程序

行扫描的接法写个向上移动的程序很容易,列扫描的接法写个左右移动的程序很容易,只是通过字模的数组不同取法就可以实现但上面的接法明显不符合实际要求,行扫描的时候一般都是要左右移动显示,列扫描的时候一般是上下移动显示所以我们需要的是行扫描左右移动的程序,列扫描上下移动的程序,这样的程序要用到数组数据的移位操作,下面附上代码:#include #define uchar unsigned char

2015-04-20 10:51:30 6171

RAM Stress Test(RST)内存测试软件使用指南说明 近日比较关注内存的检测问题,找到了名为“RAM Stress Test”的软件(简称R. S. T.) 但是下载下来,只有区区的2

通常工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test,只要有一丁点问题,都能检查出来,推荐大家使用,各位一定都碰到过,提示内存不能为READ,或者WRITTEN的情况,很多时候都是软件问题,要解决他首先检查内存条的质量,然后再从软件去找问题。这个软件是最专业的,比那个MEMREST还好,只需要检查一边,好就是好,坏的就是坏的。这个软件确实很好,内存坏的话会显示红色,并且报警。但是只能检测一代内存,二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式,他其实是从其他的产品独立出来的一项测试,该公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍,因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题,所以是非常好用的一个测试工具!!   使用非常简易,只要设定为软碟开机就行了,他是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量他都能测!!  发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。   附件IMZ需要用winImage展开到软盘上,然后用此软盘启动系统。   附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。   程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试你CPU的L2 cache。 ☆ 可以测试SD及DDR内存。 ☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区

2025-06-07

CC8531无线音频ic应用

CC8531无线音频ic应用文档,CC8531 用于无线数字音频流的 PurePath™ 无线 2.4GHz 射频 SoC

2014-08-11

MELIS应用程序开发培训文档V1.0.pdf

MELIS应用程序开发培训文档 用于全志芯片F1C系列。例如F1C100S,F1C200S,F1C500S,F1C600S等等 说明在melis下开发应用程序方法和教程

2020-09-01

GM8136S_GM8135S_Data_Sheet_V0.2.pdf

GM8136S规格书。用户手册。带寄存器说明,引脚和封装介绍。 GM8136S规格书。用户手册。带寄存器说明,引脚和封装介绍。

2020-09-01

Melis入门基本知识点.pdf

F1C100S官方SDK开发包Melis系统的入门基本知识点说明。 melis是全志官方的系统框架,集成了全部f1c100s的驱动

2020-09-01

led摇摇棒资料

单片机led摇摇棒制作资料 带电路图,代码,课程报告

2013-12-08

TVD参考资料.rar

F1C100S的TVD部分外设参考资料 里面包括一些参考的代码等等 注:官方的TVD是没有资料的,这个是自己从各种地方收集整理的

2020-09-01

0~20V 0~3A 数控同步整流充电实验两用电...pdf

电压0-20V,电流0-3A的数控同步整流充电设计手册。 很详细,有设计过程电路原理说明。。。。。。。。。。。

2020-09-01

OLED12864屏汇编语言底层显示程序

OLED12864屏汇编语言底层显示程序,有详细注释,SSD1303,SSD1306驱动IC的OLED屏51单片机汇编驱动显示程序

2015-04-20

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