权威 | ETest亮相《单片机与嵌入式系统应用》学术期刊

本文详细介绍了ETest,一种针对半实物仿真测试系统开发的自主可控集成开发环境,其以ETL为核心,提供了高效开发工具和便捷模式,显著提升了测试系统的开发效率,并在多个领域得到广泛应用。

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《单片机与嵌入式系统应用》创刊于2001年,是由中华人民共和国工业和信息化部主管、北京航空航天大学主办的中央级期刊

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《测试系统集成开发环境ETest及其工程应用》全文讲述了ETest的架构设计、设计原理、开发模式等,全面展示了ETest可显著提高测试系统的开发效率,具有1 ms级实时响应性能,可以为用户提供异步操作的测试程序开发模式,在多接口上执行并发I/O,是测试系统开发的利器。

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图1  ETest架构设计

ETest是一款面向半实物仿真测试系统开发的国产自主可控集成开发环境,其核心是嵌入式测试领域描述语言ETL(Embedded Test Language),可完整用语言描述设备及其接口、接口连接关系、通信协议模板、操作监控面板以及测试脚本,并为ETL设计和开发了智能化代码编辑器、图形化交联环境绘制工具、可视化监控面板设计工具、ETL实时运行引擎等模块。

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图2 ETest的数据流图

作为工业基础软件,ETest填补了我国在测试系统集成开发环境方面的空白,提出的ETL语言具有完善的工具链,测试系统的设计与开发模式便捷、灵活,突破了领域语言定义与应用、异步事件循环调度、动态脚本实时处理、跨平台的IDE架构设计与开发等多项关键技术,显著提高了测试系统的开发效率,该IDE已在多个型号研制中发挥了重要作用,可以推广应用于航空、航天、船舶等领域的装备研制过程的软硬件开发调试和测试试验。期待早日建立起国产国产自主可控自动测试系统的装备开发生态,迎接工业软件中国制造的光明未来。

通过短时倒谱(Cepstrogram)计算进行时-倒频分析研究(Matlab代码实现)内容概要:本文主要介绍了一项关于短时倒谱(Cepstrogram)计算在时-倒频分析中的研究,并提供了相应的Matlab代码实现。通过短时倒谱分析方法,能够有效提取信号在时间倒频率域的特征,适用于语音、机械振动、生物医学等领域的信号处理故障诊断。文中阐述了倒谱分析的基本原理、短时倒谱的计算流程及其在实际工程中的应用价值,展示了如何利用Matlab进行时-倒频图的可视化分析,帮助研究人员深入理解非平稳信号的周期性成分谐波结构。; 适合人群:具备一定信号处理基础,熟悉Matlab编程,从事电子信息、机械工程、生物医学或通信等相关领域科研工作的研究生、工程师及科研人员。; 使用场景及目标:①掌握倒谱分析短时倒谱的基本理论及其傅里叶变换的关系;②学习如何用Matlab实现Cepstrogram并应用于实际信号的周期性特征提取故障诊断;③为语音识别、机械设备状态监测、振动信号分析等研究提供技术支持方法参考; 阅读建议:建议读者结合提供的Matlab代码进行实践操作,先理解倒谱的基本概念再逐步实现短时倒谱分析,注意参数设置如窗长、重叠率等对结果的影响,同时可将该方法其他时频分析方法(如STFT、小波变换)进行对比,以提升对信号特征的理解能力。
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