光耦测试之频率篇

最新推荐文章于 2025-06-03 22:48:01 发布
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分类专栏： TLP 文章标签： 测试 晶体管 PS2805-1 PS2801-1 TLP521-1
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光耦合器在数字电路中广泛应用，本测试主要关注晶体管输出和高速集成电路输出类型的光耦响应频率。通过FPGA提供输入信号，测试了TLP521-1, PS2801-1等型号的光耦在不同频率下的性能，最高测试频率达到40MHz，并分析了输入电流和输出负载对光耦响应时间的影响。" 136955836,8753399,C#编程：实现整数列表的排列组合算法,"['C#', '算法实现', '编程技巧', 'Windows应用']

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光耦全称光耦合器（opticalcoupler），它是以光为媒介来传输电信号的器件，输入与输出之间除了光束外无其它任何连接，完全隔离。在数字电路应用广泛。

根据输出类型一般有如下几类：晶体管输出、高速集成电路输出、三端双向可控硅输出和光控继电器。在电路设计中以晶体管输出和高速集成电路输出使用居多，本次测试的光耦选用这两类为样品。

光耦的响应频率与光耦的打开关闭速度即上升沿与下降沿时间有关，其中上升沿与光耦的输入电流有关，输入电流越大，上升沿越短。下降沿与光耦的输出负载有关，负载越重电流释放越快，下降沿也越长。

本测试使用的电路如下：

图1

输入信号由FPGA提供，高电平3.3V，输出为24V系统。考虑到光耦输入很多是由单片机之类的提供，其驱动电流有限，最大的也就十几毫安，因此测试是选用10mA的输入电流，因不同光耦的压降不同，需通过可调电位器R2进行微调。一般晶体管输出（不包括达林顿输出，关于该类型光耦后文有讨论）的光耦输出电流可到50mA，在测试中我们在输出端串上一只1k的电阻，然后施加24V的电压，此时的负载电流约23mA，接近标称值的一半。

测试样品：TLP521-1,PS2801-1,PS2805-1,TLP127,TLP181,HCPL0601

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ITH 输入阈值电流 --->vcc给电压，输入给电流(缓慢升高)，输出设置电流/电压。CTR 电流传输比 --->输入电流/输出电流（温度越高差值越小）VTHLH 低电平的阈值电压 --->输出的10%-90%VTHHL 高电平的阈值电压 --->输出的90%-10%IOH 高电平输出电流 --->输出和vcc之间测电流。PWD 脉宽失真 --->|tPHL-tPLH|IOL 低电平输出电流 --->输出的电流。VOL 低电平输出电压 --->输出的电压。VF 输入正向电压 --->输入电流测电压。
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