潜龙勿用

/************************************************************************* * Filename: fpga_test.c * Author: Kung * Description: Test FPGA : 1.Test unchanged data; 2.Test randam data;

1.常温通电老化：常温（25度）下，产品通电并加负载老化72小时，产品在大批量产生产前进行小批量抽样使用2.加热通电老化：将产品在45度的环境温度下，老化时间选用36小时，此方案在批量生产使用3.加热通电老化：将产品在60~65的环境温度下，通电老化时间选用12小时，此方案在产品工程化阶段测试使用