Verilog设计如下
//描述:数据位16位,下降沿16位,地址位16位

(四)功能测试
测试一:

验证第一组: 20ns下降沿,但因读写同时进行,DOUT1无效
验证第二组: 40ns下降沿有效,实行写入操作,读出DOUT=EDA8
测试二

验证第三组:40ns时:下降沿有效:但之前WR和CLK不同时有效,故读出0000
验证第四组:140ns时,下降沿有效,实行读操作,读取1030地址生效时100ns写入的数据BB0F
测试成功!!
本文详细记录了使用Verilog进行的设计过程及功能测试。测试包括不同下降沿时的读写操作验证,如20ns下降沿导致DOUT1无效,40ns下降沿时的读写操作有效性等。通过多次验证,确保设计正确无误。
Verilog设计如下
//描述:数据位16位,下降沿16位,地址位16位

(四)功能测试
测试一:

验证第一组: 20ns下降沿,但因读写同时进行,DOUT1无效
验证第二组: 40ns下降沿有效,实行写入操作,读出DOUT=EDA8
测试二

验证第三组:40ns时:下降沿有效:但之前WR和CLK不同时有效,故读出0000
验证第四组:140ns时,下降沿有效,实行读操作,读取1030地址生效时100ns写入的数据BB0F
测试成功!!
2015