77、乱码电路与多层随机信标的安全分析

乱码电路与多层随机信标的安全分析

乱码电路相关定义与性质

在乱码电路的研究中，有几个重要的定义和性质需要关注。

首先是“Bad Event 2”和“Bad Event 3”的定义：
- Bad Event 2 ：对于带有乱码 $\nabla g$ 的门 $g$，设 $L_A$ 是输入线 $A$ 的候选非活动标签集，$L_{g}^ $ 是非活动输出标签，$L_g$ 是活动输出标签。当对于 $L_{a}’ \in L_A$，满足 $RO_g(L_{a}’, L_B) \circ \nabla g \in {L_g, L_{g}^ }$ 时，“Bad Event 2”发生。
- Bad Event 3 ：对于带有乱码 $\nabla g$ 的门 $g$，设 $L_B$ 和 $L_A$ 分别是输入线 $B$ 和 $A$ 的候选非活动标签集，$L_{g}^ $ 是非活动输出标签，$L_g$ 是活动输出标签。当对于 $L_{b}’ \in L_B$ 和 $L_{a}’ \in L_A$，满足 $RO_g(L_{a}’, L_{b}’) \circ \nabla g \in {L_g, L_{g}^ }$ 时，“Bad Event 3”发生。

根据这两个定义，还有相应的推论：
- 推论 1 ：在与定义 4 相同的设置下，设 $BL_A \subseteq L_A$ 是导致“Bad Event 2”的候选集，$L_{a}’$ 是第 $i$ 次查询中查询的候选标签，$L_i \subseteq L_A$ 是由前