S32K3 RAM ECC 的问题

最新推荐文章于 2025-10-29 17:13:09 发布
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#arm #嵌入式硬件

背景：打算APP写RAM升级字，然后BOOT去读升级字。

RAM必须写才算初始化，但是实际在main函数内写入时，会触发异常，从而进入错误中断，实测调试发现在汇编启动部分就不会。怀疑cache的问题，所以加上一行

SCB_CleanDCache_by_Addr(内存地址)
写内存
SCB_CleanDCache_by_Addr（内存地址）

结果都不行，没办法改成这样了：

  SCB_DisableDCache();
  *ptr=val;
  SCB_EnableDCache();

就好了~~~~

链接文件及功能安全：S32K3如何将FLASH驱动放到RAM里面、RAM如何实现软件复位数据不丢失操作。
梦想技术家
06-18 2012
在通过RTD的SDK也好MCAL也好，始终存在一个问题，生成的代码除了看门狗模块，默认都是放在flash里面，按照正常逻辑来看没啥大的问题，思考一个问题：Flash放在0x100的位置，但是此时我们要操作0x100怎么办？那肯定不允许啊，但是将flash的驱动放在RAM里面就可以避免这个问题的产生。Flash的特性：PF0能操作PF1，当然PF1也能操作PF0的，以此类推，只要不操作自身，想怎么玩都可以。这也是一个物理特性吧。
链接文件及功能安全：S32 Design Studio编译器对S32K3的链接文件及内存解析
梦想技术家
12-04 3528
S32K3 系列芯片有 4 种存储器：Flash、 SRAM、TCM 和 Cache 存储器。S32K3 系列芯片还内置了一些带有专用存储器的模块，如 EMAC 和 CAN。Flash 专用于编写代码和存储数据。此外，S32K3系列中的所有芯片都有一个 8KB 的 UTEST 扇区，用于存储重要配置或为应用程序保留信息。S32K3系列芯片的 Flash program 存储器从 512KB 到 8MB不等。RAM 由 SRAM 和 TCM 组成。SRAM 存储器的部分区域在 Standby 状态下可用。
NXP S32K3xx 多次复位(reset)后MCU跑死、崩溃、出错分析
HeFlyYoung的博客
11-24 8887
s32k3出现多次复位后死机的情况
小猫爪：S32K3学习笔记11-S32K3之FCCU
Oushuwen的博客
03-14 1万+
小猫爪：S32K3学习笔记10-S32K3之FCCU 1 前言
使用J-Link Attach NXP S32K3导致对应RAM区域被初始化成0xDEADBEEF
IAR_Systems的博客
10-29 1042
在使用J-Link调试NXP S32K3时，由于ECC机制要求，RAM区域会被初始化为0xDEADBEEF导致数据异常。文章提供了具体脚本示例和核心选择方法，并指出需要根据实际调试日志确认配置。
小猫爪：S32K3学习笔记08-S32K3之MCAL中的FEE
Oushuwen的博客
02-28 1万+
小猫爪：S32K3学习笔记07-S32K3之MCAL的FEE模块1 前言2 Fls模块3 Fee模块3.1 存储结构 1 前言 今天来简单说说MCAL中的FEE模块，因为S32K3的FEE模块在MCAL层应该是比较特殊的存在，因为它本身牵扯不到任何的硬件模块，而是一屁股坐在了Fls模块上，它负责发号施令，而Fls层负责干活。 2 Fls模块 再了解Fee模块前得先了解一下Fls模块，关于Fls模块的介绍，大家请参照一位资深大佬的文章，文章链接如下： 《AUTOSAR MCAL详解：FLS》，请仔细参考。 3
小猫爪：S32K3学习笔记17-S32K3之数据完整性的保障和手段
Oushuwen的博客
03-30 6166
小猫爪：S32K3学习笔记17-S32K3之PMC和MC_RGM1 前言 1 前言   
如何在软件复位后保留指定RAM区域的数据
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北极熊的脖子（16605192620@163.com）
02-06 1万+
本文主要介绍S32K144的RAM retention功能
S32K3 學習筆記
iverson3ya的博客
10-18 2382
STM32K3 學習筆記 文章目录STM32K3 學習筆記1.啟動詳解篇BAF 處理流程IVT 解析Boot Configuration Word 配置RTD工程啟動所需文件RTD啟動流程圖總結2.S32K3 FOTAUse casesHSE FW Update Procedure for Full MemHSE FW Update Procedure for A/B SwapHSE and application image layout in A/B Swap configuration after u
# S32K312增大ld文件定义的RAM空间引发hardfault问题记录：
xitu111的博客
11-05 1345
S32DS中更改.ld文件的int_ram字段长度，原定义为32kb，更改为64kb，编译通过，但运行错误,引发hardfault问题分析。
S32K3xxDS.pdf
05-17
《S32K3xx系列微控制器详解》 S32K3xx系列微控制器是NXP公司推出的一款高性能、低功耗的嵌入式处理器，适用于广泛的工业和汽车应用。该系列芯片集成了Arm Cortex-M7核心，具有强大的处理能力和丰富的外设接口，为...
S32K3 存储器指南S32K3 系列芯片的存储器的特性S32K3 系列芯片有 4 种存储器：Flash、SRAM、TCM 和 Cache 存储器
09-09
S32K3系列芯片的存储器特性包括四种类型的存储器：Flash、SRAM、TCM（紧密耦合存储器）和Cache存储器。Flash存储器用于编写代码和存储数据，拥有从512KB到8MB不等的存储容量，且含有一个8KB的UTEST扇区，用于存储...
S32K3学习笔记—链接文件及启动代码相关
Abler_xaing的博客
10-22 7507
S32K3启动文件及链接文件相关
S32K324芯片学习笔记
赞的博客
09-03 1810
S32K324芯片学习笔记-总览
小猫爪：S32K3学习笔记09-S32K3之Safety简介
Oushuwen的博客
03-14 1万+
小猫爪：S32K3学习笔记09-S32K3之Safety简介1 前言2 介绍END 1 前言   接下来，就要开始进学习一下S32K3最。。最。。最搞的一个部份了，那就是Safety部分了。这也是S32K3自称功能安全等级能达到ASIL-B/D级别的芯片最坚实的支撑。 2 介绍   下面是S32K3这个系列中各个PN能达到的等级情况：   其实也可以更简单的来看，就是有锁步核的PN才能达到ASIL-D，因为锁步核是ASIL-D的要求。   那么S32K3为了功能安全Safety都准备哪些功能来支撑呢，S3
NXP应用随记（一）：S32K3xx手册阅读随记
梦想技术家
12-11 6600
核心和平台:跨S32K3系列的Arm®Cortex®-M7核心，用于软件重用安全性:HSE B横跨S32K3系列安全性:ISO 26262 ASIL D和ASIL B在S32K3系列中完全兼容内存:512kb - 8mb的S32K3，可扩展到128kb的S32K1封装:BGA / MaxQFP引脚兼容S32K3系列最高性能的Cortex-M处理器提供最佳的类整数，浮点和DSP性能。灵活的系统和内存接口，包括AXI, AHB，缓存和紧耦合存储器（TCM）。引入知识点：哈弗与冯诺依曼结构区别。
SRAM之ECC检测机制
weixin_48498880的博客
11-06 7673
本文基于NXP的S32K1xx系列的芯片，来分析SRAM的ECC机制以及通过故障注入方式来验证以下两种类型故障。1，单比特翻转错误2，多比特不可纠正错误话不多说，走你~在了解SRAM之前，有必要先说明一下RAM。RAM主要的作用就是存储代码和数据供CPU在需要的时候调用。但是这些数据并不是像用袋子盛米那么简单，更像是图书馆中用书架摆放书籍一样，不但要放进去还要能够在需要的时候准确的调用出来，虽然都是书但是每本书是不同的。
S32DS增加私有的内存空间
ymHangz的博客
07-02 420
3、在定义变量的时候，增加__attribute__二、增加私有flash空间。一、增加私有RAM空间。
s32k3 ecc
最新发布
12-05
S32K3 是恩智浦（NXP）推出的一款汽车级微控制器系列。ECC（Error Correcting Code，错误纠正码）技术在微控制器中主要用于检测和纠正存储系统中的数据错误，增强系统的可靠性。 ### S32K3 中 ECC 的作用 在 S32K3 芯片里，ECC 主要用于片上内存（如 SRAM、Flash 等）的数据保护。内存中的数据在读写过程中可能会受到各种干扰，如电磁干扰、辐射等，从而导致数据位翻转，产生错误。ECC 能够检测出单比特错误并自动纠正，对于多比特错误也能进行检测并发出错误信号，这样可以避免因数据错误而导致系统出现故障，提高系统的稳定性和可靠性。 ### S32K3 中 ECC 的实现方式 S32K3 的 ECC 功能通常是硬件实现的。在内存控制器中集成了 ECC 编码和解码电路。当数据写入内存时，ECC 编码电路会根据数据内容生成相应的 ECC 校验码，并将其与数据一起存储在内存中。当从内存中读取数据时，ECC 解码电路会重新计算 ECC 校验码，并与存储的校验码进行比较。如果两者不一致，则说明数据可能存在错误，解码电路会根据 ECC 算法判断错误的位置并进行纠正（对于单比特错误），或者发出错误信号（对于多比特错误）。 ### 代码示例（伪代码） 以下是一个简单的伪代码示例，展示了如何在 S32K3 中使用 ECC 功能进行内存读写操作： ```c // 初始化 ECC 功能 void init_ecc() { // 启用 ECC 硬件模块 ECC_CONTROL_REG |= ECC_ENABLE_BIT; // 配置 ECC 相关参数 ECC_CONFIG_REG = ECC_CONFIG_VALUE; } // 写入数据到内存并生成 ECC 校验码 void write_data_with_ecc(uint32_t address, uint32_t data) { // 写入数据 MEMORY[address] = data; // ECC 硬件自动生成并存储校验码 } // 从内存读取数据并进行 ECC 校验 uint32_t read_data_with_ecc(uint32_t address) { uint32_t data = MEMORY[address]; // ECC 硬件自动进行校验 if (ECC_STATUS_REG & ECC_ERROR_BIT) { // 处理 ECC 错误 handle_ecc_error(); } return data; } // 处理 ECC 错误 void handle_ecc_error() { // 记录错误信息 ERROR_LOG_REG = ECC_ERROR_INFO; // 可以根据错误类型进行不同的处理，如复位系统等 } ``` ### 相关文档和资源 要获取更详细的 S32K3 ECC 相关信息，可以参考恩智浦官方提供的 S32K3 系列微控制器的数据手册、参考手册以及应用笔记。这些文档中包含了 ECC 功能的详细描述、寄存器配置说明、使用示例等内容。
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