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RSS订阅原创 生成测试向量过程中一种将二进制文件转化成存储器初初始化文件的脚本
/检测判断转化是否完成。在测试机测试过程中，芯片无法接下载器下载程序，只能通过端口将程序写入到SRAM中去，这时就需要将程序生成的二进制文件（.bin）转化成存储器初始化文件（.txt)，以下是实现这一转化过程的脚本。
2025-07-14 16:16:11
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原创 数字IC的SDF文件以及所需验证的conner概述
SDF（标准延时文件）是集成电路设计中时序信息交换的工业标准，遵循IEEE1497规范。它用于将物理实现阶段的时序数据传递给仿真工具，支持主流EDA平台互认。SDF文件包含头信息（版本、设计名称、时间精度等）、单元时序定义（路径延迟、时序检查）以及互连线延迟，形成完整时序模型。文件采用层次化文本结构，支持绝对/增量延迟、12种信号跳变组合及条件约束。芯片制造中的工艺偏差通过不同工艺角（如TT、SS、FF等）表征，现代工艺已从传统5角扩展到11角模型（如SMIC40LL）。SDF在综合和布局布线阶段分别生成门
2025-07-12 22:12:54
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原创 芯片验证工作总结笔记
本文总结了几项技术工作的关键注意事项：1. Linux仿真环境操作要点，包括常用命令、文件传输与仿真流程，强调需区分启动方式并保存测试用例；2. 电路整理方法，建议从寄存器出发分数据流和控制流处理；3. Keil生成bin文件的指令格式；4. Linux平台搭建的构成要素及脚本功能说明。文中提供了具体操作指令和实用技巧，如文件权限设置、波形生成方法等，对技术开发工作具有实际指导意义。
2025-07-11 17:05:59
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原创 TetraMax生成测试向量脚本示例即调试注意点
Tmax测试脚本摘要：run_tmax.tcl脚本用于芯片测试生成，主要流程包括：读取网表文件、设置黑盒模块、建立测试结构、运行DRC检查、执行ATPG测试模式生成。调试要点：1) 网表添加需逐步完善；2) 处理工具不支持的语法需设置为黑盒；3) 扫描链阻塞问题可通过GUI分析；4) 端口方向需严格区分；5) 尽量减少黑盒和固定值的使用以提高覆盖率。脚本输出WGL和STIL格式的测试向量文件。
2025-07-08 20:53:20
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原创 一款芯片的SramBist进入方式以及仿真验证
一、初始条件： PT2,PT1,PT0组合值控制进入BIST MOD，TEST引脚测试输入，PT5数据输入；按时序向输入端口打入数据后，PT6上电平检测到由低拉高即代表测试完成，若PT6拉高之前出现PT7上电平由低拉高即表示出错。PT2=1'b0,PT1=1'b1,PT0=1'b0 //采样寄存器时钟使能。PT2=1'b0,PT1=1'b1,PT0=1'b0 //进入BIST模式。PT2=1'b0,PT1=1'b0,PT0=1'b1 //移位寄存器时钟使能。
2025-07-02 21:12:21
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原创 芯片测试模式原理详解以及RTL实现
对于移位寄存器，来自in的数据暂存于移位结果shifted[62:0],当检测到shifted[62:0]中的数据等于设定的密钥值时，key固定为1，当计数器计数结果count[5:0]为3e时，内部countercheck信号固定为1，两个条件都满足后，out_enable固定为1，允许移位结果shifted[62:0]传输至总线bus[62:0]上，即可输出所需CODE，实现期望功能。上一篇文章对于芯片测试模式主要测试的对象做了概述，本篇文章将从测试模式的原理以及RTL实现着手阐述。
2025-06-30 21:07:01
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原创 芯片测试模式概述
DFT（可测试性设计）是芯片设计中引入测试逻辑的技术，用于快速生成测试向量。主要针对三类对象：片上存储器（Mbist）、模拟模块和寄存器扫描链。测试模式可通过JTAG协议或特定端口时序实现。Mbist通过插入组合逻辑测试存储器的读写功能；扫描链测试将普通寄存器替换为扫描寄存器，通过SE信号切换数据通路，使用shift和capture模式分别输入测试向量和捕获故障点。该技术能有效检测芯片内部故障，提升测试效率。
2025-06-28 17:01:21
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空空如也
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