信号加重技术

本文探讨了码间干扰(ISI)及其解决方案,着重介绍了加重技术如pre-cursor和post-cursor在IC中的应用,以及数字电路如何检测跳变沿进行信号加重。通过实例和实测信号波形,展示了CML和VML在高速SerDes中的角色。

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PART01. 码间干扰(ISI)

定义:当前bit码元受前面“history bit”影响,历史bit存在“拖尾”,蔓延到当前bit,在当前bit抽判时刻,叠加上噪声,引起码间干扰。
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造成的原因是传输路径有损耗(Lossy line),信号高频分量丢失,表现为边沿变缓,长连0长连1后的跳变振幅降低,信号好像“拉不起来,拉不低”。

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PART02. 加重技术解决码间干扰(ISI)

加重技术(emphasis),提升信号边沿处的振幅。
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加重后的效果,
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PART03. IC内部如何实现?

加2种emphasis,pre-cursor,post-cursor,以及一个main。

  • pre-cursor提升跳变沿前的信号振幅。
  • post-cursor提升跳变沿后的信号振幅。
  • main提升整个信号的振幅。

例如下图xilinx的示意图三个放大器,加重幅度寄存器可配,5bit,[4:0]。
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有没有更具体一点的IC内部的实现方式?有的,I-1,I0,I1三个电流源,实现currnet mode logic的不同bit电流驱动强度,电流强度实际在在RX端接电阻I*R,会降为电压信号。这个就是所谓的CML,current mode logic,沈土豪提过,是电流信号,高速serdes均是如此。

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我还翻过VML,voltage mode logic,还可以用高速DAC实现TX信号的加重技术,直接输出一组高速的可变电压对应的数字信号。

PART04. 数字电路如何知道跳变沿需要加重?

原信号和原信号的delay信号,送入异或门,不同为1,直接获得跳变沿。
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PART05. 有没有实测的信号波图?

有的,这么抽象,当然还是看图来的直接,下期见~更多的精美套图,
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