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RSS订阅原创 AD5791&DAC91001简单学习
A：开尔文连接，将供电（Force）和检测（Sense）分开，消除PCB走线等线路上电阻分压的影响，检测线仅仅传输很小的检测电流（uA级），最后推荐的参考电源连接方式如下图，VREF通过基准电压缓冲器进入AD5791，保证芯片内部的VREF和基准电压源一致。A：两个作用，一是如下图3，在将RBUF控制寄存器配置为0时，内部A1上电，RFB和R1串联，允许连接一个增益为配置2的外部放大器；二是在将RBUF控制寄存器配置为1，默认状态时内部放大器A1掉电，电阻RFB和R1并联，如图49所示；
2025-12-25 14:55:01
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原创 信号源内阻匹配问题
复现发现但是能测量到60+阻值是因为设置直流偏置是0V，导致信号发生器内部逻辑切换，可能是直流通道打开，所以能测量到，一旦修改直流偏置，就会和老款一致，万用表无法显示阻值。二是信号发生器有输出模式选择，可以选择50Ω和高阻抗档位，选择50Ω档位时，信号发生器会默认你做了末端阻抗匹配，会在内部将电压翻倍然后输出；于是怀疑是信号源的问题，当时使用万用表测试怼在两个信号源的输出口，发现信号发生器在万用表显示60+欧姆，老款的是无法测得电阻。于是认为是信号源问题，当时没有细想，也没有测量输入到板子的波形。
2025-12-24 11:31:26
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原创 光纤收发器的延时问题
调试时发现，R135和R129上件数值和手册中推荐值不一样，其中R129上件的阻值太小导致使用时发热，R135上件的阻值太大，导致接收到上升沿不够陡峭，导致了方波占空比失真的问题。开始时以为是R129设置错误导致的（原来为4.7K），找FAE询问也建议减小R129的阻值，看延时会不会变化，但是卸下来测量发现板子上上件的阻值为47Ω.。进入新工作时，遇到光纤收发器接口传输数据时，上升沿的跳变和下降沿跳变不一致，及当发送端发送一个占空比为50%的方波时，使用接收端接收的方波占空比不再是50%。
2025-11-30 19:33:17
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原创 ENOB有效位--SAR ADC前端驱动电路
撇开ADC采集的电压准不准，撇开基准等，剩下的就是采样电容。同时由于电容的存在，加上开关本身的一些片内寄生电容，会将一些电荷反向注入电源，称为电荷注入反冲，从而引起振荡，导致采样电容 Csh的充放电不完全，表现为采集数据一直在变，看起来就像是个随机值。转化阶段：在转化阶段，开关 S1断开，开关 S2闭合，采样电容Csh上的电压与内部 DAC 通过比较器上的电压，从高位到低位，逐级比较。二是国产替换ADC的原因，认为内部非线性系统导致THD参数过差，或者本身指标达不到要求，将Demo板寄出至原厂调试，未回。
2025-11-23 18:48:14
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原创 LDO输出电容、磁珠导致的纹波异常以及ADC有效位测量学习
牛头马面：你才是牛马成精，我们只是长得像而已探查原因：测量18位分辨率ADC（f=2.5KHz时 ENOB有效位只有11位）过程中发现ADC电源域LDO设计引发的相关问题以及ADC参数学习。
2025-11-15 22:39:04
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原创 BUCK模式
DCDC BUCK各种模式：1、PWM、PFM、PWM+PFM2、CCM、DCM、BCM、FCCM3、电压控制，电流控制、COT、FOT、滞环控制不同分类方法：一、频率变化：1、从属于PWM的“真”定频模式a、电压模式（Voltage Mode,VM）、平均电流模式（Average Current Mode，ACM）b、峰值电流模式（Peak Current Mode，PCM）c、谷值电流模式（Valley Current Mode，VCM）2、自适应计时
2022-05-12 16:39:56
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原创 RE超标相关
一、线缆导致的RE和CS超标问题1、12V转24VDCDC，两次测量过程中存在225MHz输出超标，测量结果和原理图如下：图1-1 测量结果以及原理图通过近场扫出辐射来源于12-24V的DCDC附近，如下图：图1-2 近场扫描图测量PWM 振荡和下冲波形如下：增加RC 2.2Ω、1nF后辐射消失---应该和下冲波形有关。图1-3 PWM下冲和振荡图2、线缆材质引入的RE、线缆形式0引入的CSa、在打样的PVC材质的甩线测试时，线缆阻抗差
2022-04-27 20:01:01
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原创 SPI QUAD下启动失败
因使用的芯片SPI_WP需要和I2S_ADC CLK复用，同时芯片涉及快速启动，启动阶段使用了SPI QUAD模式，设计时使用模拟开关切换的方式默认为WP引脚（快启时作为数据脚），启动完成后切换为I2S_ADC CLK。单板回板后，发现在100M速率下单板启动失败，...
2022-03-30 21:50:45
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原创 EMMC烧录
eMMCeMMC (Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC在封装中集成了一个控制器，提供标准接口并管理闪存，通常厂家出来的eMMC 主要由这几个部分组成：1. BOOT Area Partition 1 & 22. RPMB (Replay Protected Memory Block) Partition3. User Data Area4. Vender pri...
2021-07-31 19:34:00
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原创 调试记录- SVB调压电路
写调试记录时遇到上图测量得电压波动和纹波均较大，检查原因为抄图时漏了一个电容，即PWM信号未经过RC滤波。SVB动态调压电路可以使用基尔霍夫定律，信号经过分压和RC滤波后得到0~1.1V电压可以将SVB电路简化得到下图电路VL是可调输出电压，而Vref恒定为0.6V，Upwm是SVB输出电压，0~1.1V因此将0.6V电压值和电阻值带入上述4个方程，最终得到245.76=82Vr+180VL海思的单板说明文档里面也有该电路的说明...
2021-04-13 11:09:25
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原创 PCBA部分工艺流程
PCBA部分工艺流程流程为：SMT、手工或波峰焊、测试。SMT：1、上锡膏：钢网，上完后擦拭钢网。（高配线和低配线所用锡膏会有差别）2、放件：卷盘出货的耐热为60度 ，托盘出货为150度；利用锡膏的粘性粘住器件；卷盘吸嘴通过相机AOI检测是否准确吸住物料。3、回流焊：例如机型有10个加热片则分为：1和2号加热片温度设置为140度-预热用于蒸发锡膏中液体成分；3到6号加热片温度设置为170到180度-让助焊剂清洁焊盘；7到10号加热片温度设置为240到260度-加热锡（熔点217），使
2020-08-17 09:07:20
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原创 代码从Quartus ii 13.0到ISE 14.2出现的小问题
问题：将代码从Quartus ii 13.0移到ISE 14.2时，运行结果不正确。代码：module UartRxd_9600 (Clk,Rst,D_Rxd,D_Rx_Data,Rx_S_IsDone);input Clk,Rst,D_Rxd;output [7:0] D_Rx_Data;output Rx_S_IsDone;//----------------reg S_...
2019-10-28 16:59:57
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原创 硬件岗面试问题记录（三）
本文主要记录一些专业面问题及面后的想法，文章根据各岗位、各公司以及时间进行排版（想法仅代表个人-更新至找完工作）。
2019-10-06 20:27:47
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原创 硬件岗面试问题记录（二）
本文主要记录一些专业面问题及面后的想法，文章根据各岗位、各公司以及时间进行排版（想法仅代表个人-更新至找完工作）。
2019-08-22 12:40:17
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原创 硬件岗面试问题记录（一）
本文主要记录一些专业面问题及面后的想法，文章根据各岗位、各公司以及时间进行排版（想法仅代表个人-更新至找完工作）。
2019-08-03 09:19:41
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转载 关于FFT的一些
FFT（Fast Fourier Transform，快速傅立叶变换）是离散傅立叶变换的快速算法频率分辨率的2种解释为什么要用2.56倍 FFT（Fast Fourier Transform，快速傅立叶变换）是离散傅立叶变换的快速算法，也是我们在数字信号处理技术中经常会提到的一个概念。在大学的理工科课程中，在完成高等数学的课程后，数字信号处理一般会作为通信电子类专业的专业基础课程进行学习，原因是其中涉及了大量的高等数学的理论推导，同时又是各类应用技术
2017-11-16 16:41:11
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转载 【CCS小技巧】CCS查看代码运行周期
在单片机开发中，通常需要精确估算代码运行时间，用于对算法优化以及对项目平台选择提供参考，通常算法如果用汇编编写，可以人工计算出运行时间，用C语言编写也可以通过反汇编代码而计算到较为精确的运行时间，但当程序中出现很多函数的调用，以及程序嵌套是，使用人工计算程序运行时间则比较费时费力。在CCS中可以对程序运行时间进行测量。CCS官方给出了两种测试代码运行时间的办法，有兴趣的可以阅读一下官方文档原文
2017-11-14 21:15:41
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转载 不重复随机数列算法思路
本文将讲述一个高效的不重复随机数列的生成算法，其效率比通常用hashtable 消重的方法要快很多。作者：eaglet 转载请注明出处。首先我们来看命题：给定一个正整数n，需要输出一个长度为n的数组，数组元素是随机数，范围为0 – n-1，且元素不能重复。比如 n = 3 时，需要获取一个长度为3的数组，元素范围为0-2，比如 0,2,1。这个问题的通常解决方案就是设计一个 h
2017-11-12 09:53:57
549
制作电子签名.mp4
2020-06-03
空空如也
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