基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

#include<stdio.h>
#include<string.h>
int main()
{
	int n,i,j;
	int arr[25][25];
	int count[25];
	scanf("%d",&n);
	memset(count,0,sizeof(count));
	for(i=0;i<n;i++)
	{
		for(j=0;j<n;j++)
		{
			scanf("%d",&arr[i][j]);
		}
	}
	for(j=0;j<n;j++)
	{
		for(i=0;i<n;i++)
		{
			if(j!=i && arr[i][j]==1)		//以列为单位，统计每个芯片被其它芯片（不包括自己本身）
			{
				count[j]++;
			}
		}
	}
	for(j=0;j<n;j++)
	{
		if(count[j]>=n/2)		//判断为好的次数，若超过一半或者等于一半则认为此芯片为好芯片。
		{
			printf("%d ",j+1);
		}
	}
	printf("\n");
	return 0;
}