RE整改实例——接口缝隙引起的EMC问题整改

Yasir'sHardwareLogs

已于 2022-05-06 10:35:05 修改

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分类专栏：电磁兼容文章标签： EMC

于 2021-12-21 13:04:04 首次发布

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文章详细介绍了在EMC测试中，由于接口缝隙导致的问题及整改方法。通过对750MHz频点超标问题的分析，提出开口尺寸应小于二十分之一波长的解决方案，有效解决了辐射问题。另外，文中还提及了一例整机频点超标的情况，通过封闭按键孔消除辐射源。最后，简要讨论了法拉第笼在电磁屏蔽中的作用。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

前言

背景：CT某一产品中的控制电路，在RE测试时候750MHz频点超过3dB

整改方法：经过近场测量分析，辐射来源于接口缝隙。经公式计算，750MHz频率引起的对应波长λ = 0.4m,在EMC允许缝隙的长度选择中建议小于二十分之一波长，则λ/20 = 0.02m,所以开口应该小于2cm，内部用金属弹片将开口分割为小于2cm的缝隙，问题得以解决

$\lambda =\frac{c}{f} = \frac{3.0* 10^{6}m/s}{f(Hz))}$

引申

再一次RE试验中，发现整机有一组频点超标，或者余量不足，将天线扫面整机，发现只要到达前壳，频点辐射严重，根据超标频点742MHz，并分析前壳部件；怀疑干扰来源于前壳开口，而前壳只有一个部位是镂空的就是2.8cm直径的按键空，将按键孔堵上之后，辐射点消失。

整改前辐射点超标波形

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