30.常见的异常类有哪些？

最新推荐文章于 2025-05-12 22:23:30 发布
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分类专栏： Java基础
原文链接：https://blog.youkuaiyun.com/weixin_44893902/article/details/106569280
本文列举并解释了常见的5种运行时异常，包括ArithmeticException、ArrayIndexOutOfBoundsException、NullPointerException、ClassCastException和IllegalArgumentException，帮助读者理解这些异常的特点及其处理方式。

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列举最常见的5个运用时异常。
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1、Error和Exception的联系和区别：

Error类和Exception类是Throwable类的两个直接子类。
Error类包括一些严重的程序不能处理的系统错误类，如内存溢出、虚拟机错误、栈溢出等。这类错误一般与硬件有关，与程序本身无关，通常由系统进行处理，程序本身无法捕获和处理。
Exception类异常是在程序中发生后可以进行捕获处理，处理后程序正常运行，从而保证程序的稳定性及健壮性。
2、常见运行时异常：

ArithmeticException、 ArrayIndexOutOfBoundsException、 NullPointerException、ClassCastException、 IllegalArgumentException、 NumberFormatException

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C/C++程序员为什么要了解汇编？了解汇编有哪些好处？如何学习汇编？
dvlinker的技术专栏
10-09 14万+
本文详细讲解了C++程序员为什么要了解汇编，了解汇编都有哪些具体的好处，如何学习汇编，以及如何看懂汇编代码上下文等，希望能给大家提供一定的借鉴或参考。
C++软件调试与异常排查从入门到精通专栏介绍与文章汇总
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06-29 22万+
根据近几年排查软件异常的实践与经验，系统地讲解了C++软件异常常见原因与常用排查方法，以图文并茂的方式给出具体的分析实例，带领大家逐步掌握C++软件异常排查的相关技术与要领。
常见的异常类有哪些？
ConstXiong
06-01 1万+
常见的异常类有哪些？ 异常非常多，Throwable 是异常的根类。 Throwable 包含子类 错误-Error 和 异常-Exception 。 Exception 又分为 一般异常和运行时异常 RuntimeException。 运行时异常不需要代码显式捕获处理。 下图是常见异常类及其父子关系： Throwable |　　├ Error |　　│ ├ IOEr...
异常|常用类
yudi1523的博客
09-18 646
异常 Error:错误:一般是由虚拟机生成并脱出的,程序员无法解决 Exception: 异常 CheckException 编译时异常: 编译时期就会出现的异常 ,如果出现了编译时异常不处理,程序无法运行 RuntimeException 运行时异常 : 运行时期会出现的异常 ,所有的运行时异常都会直接或者间接的继承自RuntimeException,可通过增强程序的健壮性处理 if判断...
Java-异常详解
weixin_50701238的博客
05-12 928
JDK中定义了多种异常类，所有异常类都继承自Throwable类，其直接子类为Error和Exception，分别表示错误和异常。Error表示严重错误，通常无法处理；Exception表示可处理的异常，包括运行时异常（如NullPointerException、ArrayIndexOutOfBoundsException等）和编译时异常（如FileNotFoundException、IOException等）。异常处理通过try-catch-finally结构实现，finally块始终执行，用于资源清理。
几种常见的异常
夏晨Season的博客
10-27 4974
①算术异常类：ArithmeticExecption ②空指针异常类：NullpointerException ③类型强制转换异常：ClassCastException ④数组下标越界异常：ArrayIndexOutOfBoundsException ⑤文件未找到异常：FileNotFoundException ⑥操作数据库异常：SQLException ⑦java.lang.ClassForma...
Java常见异常.pdf
09-30
在Java中，异常被组织成一个层次结构，根类是`Throwable`，它有两个主要的子类：`Error`和`Exception`。`Error`通常用于表示严重的问题，如系统级错误或虚拟机错误，这些通常不期望程序捕获；而`Exception`是程序中...
最新Java面试题，常见面试题及答案汇总
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Jack方
07-12 70万+
Java最新面试题、面试题答案汇总
Java常见异常和错误[定义].pdf
10-11
### Java常见异常与错误解析 #### 一、`NoClassDefFoundError` ##### 定义： `NoClassDefFoundError` 是一个运行时错误，它发生在JVM试图加载类的定义时，但找不到对应的类定义。 ##### 常见原因： 1. **类路径...
异常类有哪些?
BoomMan
02-05 1万+
转载自:Java 常见异常种类 1、Error 2、Runtime Exception 运行时异常 3、Exception 4、throw 用户自定义异常 异常类分两大类型：Error类代表了编译和系统的错误，不允许捕获；Exception类代表了标准Java库方法所激发的异常。Exception类还包含运行异常类Runtime_Exception和非运行异常类Non_Runtime
常见的异常类型
the_next_one_is_you的博客
04-21 504
常见的异常类型：Exception-----------------------------------异常层次结构的父类ArithmeticException-------------------------算术错误情形，如：以零做除数ArrIndexOutOfBoundsException----------------数组下标越界NullPointerException-----------...
常见的异常有哪些
z020315的博客
03-15 873
当Java虚拟机试图从一个文件中读取Java类，而检 测到该文件的内容不符合类的有效格式时抛出。11、java.lang.IllegalStateException违法的状态异常。当在Java环境和应用尚未处于某个方法的合法调用状态，而调用了该方法时，抛出该异常。10、java.lang.NoClassDefFoundError 未找到类定义错误。当Java虚拟机或者类装载器试图实例化某个类，而找不到该类的定义时抛出该错误。7、I/O 异常的根类：IOException。
常用的异常类型有哪些？
cicuiling6750的博客
08-13 4657
Java异常的顶层父类为Throwable，并实现了Serializable接口 由Throwable派生出来的异常有两种，分别为Error类与Exception Error，即错误，代表JVM本身的错误，处理程序运行环境方面的异常，不能通过代码处理。比如OutOfMemoryError，...
关于常用异常类
qq_40412764的博客
10-02 261
主题：关于常用异常类 时间：2018-10-02 内容： - 常用异常类有哪些？ NullpointException（空指针异常） ClassNotFoundException（类找不到异常） ClassCastException（类型转换异常） IllegalArgumentException（非法参数异常） ArithmeticException（算术异常） NumberFormatExc...
异常类型（常见异常收集）
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一、异常实现及分类 图1：异常类实现结构图 图2：异常类分类示意图 （一）Error类代表了编译和系统的错误，不允许捕获； （二）Exception类代表了标准Java库方法所激发的异常。 1、运行异常类RuntimeException （1）Java程序在运行时产生的由解释器引发的各种异常。 （2）Java语言中的运行异常不一定被捕获。 2、非运行时异常 ...
常见异常类
a520songhai的博客
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org.apache.ibatis.binding.BindingException ( ibatis 无效绑定异常 ) 它发生在router.dao.RouterProviderEntityDao.query4encrypt这个地方，其中RouterProviderEntityDao表示 Dao 层，query4encrypt是 Dao 层中与 Mapper 文件对应的方法...
DDR训练失败的其他常见原因有哪些？
最新发布
07-01
<think>我们正在讨论DDR训练失败的其他常见原因。根据用户提供的引用和之前的问题，我们已经知道ODT配置不当会导致训练失败。现在需要扩展其他常见原因。引用[2]提到了时序参数和ZQ校准，引用[3]提到了ODT和Vref电压调整，引用[4]提到了内存模块故障或变更，引用[5]详细介绍了writeleveling（写入均衡）的重要性。常见原因分析：1.信号完整性问题（如阻抗不匹配、反射、串扰等）-我们已经讨论过ODT配置。2.时序参数不匹配-包括tCL,tRCD,tRP,tRAS等，这些参数在训练过程中需要校准。3.电源完整性问题 -DDR对电源噪声敏感，电压波动可能导致训练失败。4.温度影响-高温或低温可能改变信号传输特性。5.内存模块故障或兼容性问题 -如引用[4]所述，内存模块故障或更换内存后未重新训练。6.写入均衡（Write Leveling）失败 -如引用[5]所述，由于时钟与数据选通信号（DQS）之间的时序关系（tDQSS）不满足要求，导致写入错误。7.ZQ校准失败-引用[2]提到，ZQ校准用于调整输出驱动强度和终端电阻，校准失败将影响信号质量。8.参考电压（Vref）设置不当 -引用[3]提到，Vref的调整是训练过程的一部分，设置不当会导致数据采样错误。工程分析步骤：1.检查硬件：确认内存模块无故障（引用[4]），检查PCB布线（长度匹配、阻抗控制等）。2.检查电源：测量DDR电源（如VDDQ）的纹波和噪声是否在允许范围内。3.检查温度：确保在正常工作温度范围内。4.分析训练日志：如引用[1]所示，训练过程中会输出调整的时序参数，分析失败的具体阶段（如DQS校准、写入均衡等）。5.信号完整性测试：使用示波器测量关键信号（如CLK,DQS, DQ）的眼图，检查时序和电压裕量。下面详细展开每个原因和相应的工程分析方法。</think>### DDR训练失败常见原因及工程分析 基于您提供的引用资料和DDR内存工作原理，DDR训练失败的常见原因可分为**信号完整性**、**时序校准**、**硬件异常**三大类，以下是工程级分析： --- #### 一、信号完整性问题（占比~40%） 1. **阻抗匹配失效** - **ODT配置错误**（如您的案例）： ODT值（如$48 \Omega$ vs. $60 \Omega$）与传输线阻抗$Z_{\text{line}}$（通常$50 \Omega$）失配时，反射系数$\Gamma = \left| \frac{Z_{\text{ODT}} - Z_{\text{line}}}{Z_{\text{ODT}} + Z_{\text{line}}} \right|$增大，导致信号振铃和眼图闭合[^3]。 *工程对策：通过示波器测量眼图高度/宽度，调整ODT至反射系数$\Gamma < 0.1$。* 2. **Vref电压漂移** - DDR训练需动态校准Vref（数据采样参考电压），若电源噪声或温度变化导致Vref偏移$\Delta V > 5\%$，采样窗口失效[^3]。 *工程对策：监控Vref电源纹波（目标$\leq 30 \text{mV}$），添加低ESR电容滤波。* 3. **电源噪声干扰** - DDR电源（VDDQ）纹波过大（如$> 50 \text{mV}$）会破坏数据窗口，引用[2]指出ZQ校准对此敏感。 *工程对策：使用电源完整性工具（如Cadence Sigrity）优化PDN阻抗（目标$Z_{\text{target}} < 1 \text{m}\Omega$ @100MHz）。* --- #### 二、时序校准失败（占比~35%） 1. **Write Leveling失败** - 当CK时钟与DQS选通信号延迟差$|t_{\text{DQSS}}| > 0.25 t_{\text{CK}}$时（$t_{\text{CK}}$为时钟周期），同步系统崩溃导致写入错误[^5]。 *工程对策：通过示波器测量CK-DQS相位差，优化PCB走线长度匹配（误差$< 5 \text{mm}$）。* 2. **读/写延迟校准超限** - 训练过程需调整tCL/tRCD等参数，若DRAM颗粒时序容差$\Delta t > 10\%$规范值，校准超时失败（引用[1]日志中的"Adjusting read/write latency"阶段）。 *工程对策：检查DRAM SPD数据中的tAA/tRCD最大值，确保SoC支持该范围。* 3. **温度补偿失效** - 高温下DRAM单元延迟增加，若未启用温度补偿算法，训练结果在$> 85^\circ \text{C}$时失效。 *工程对策：在BIOS中启用温度自适应时序（如Intel TAT）。* --- #### 三、硬件异常（占比~25%） 1. **内存模块故障** - 引用[4]明确提示："内存模块出现故障"会导致训练失败，尤其是多位错误（Multi-bit Error）。 *工程对策：运行内存诊断工具（如MemTest86），检查SEL（System Event Log）中的ECC错误计数。* 2. **PCB设计缺陷** - 阻抗失控（如差分对阻抗偏离$100 \Omega \pm 10\%$）或串扰（$> 5\%$信号幅度）破坏信号。 *工程对策：使用SI工具（如Ansys SIwave）仿真串扰裕量，重点检查DQS-DQ分组布线。* 3. **颗粒个体差异** - 如三星DDR的驱动阻抗$R_{\text{Drive}}$波动（典型值$48 \Omega \pm 15\%$），超出SoC驱动能力范围。 *工程对策：批次抽样测试ODT敏感度，筛选$R_{\text{Drive}} < 55 \Omega$的颗粒。* --- ### 工程分析流程建议 ```mermaid graph TD A[训练失败] --> B[捕获BIOS日志] B --> C{失败阶段判定} C -->|DQS校准失败| D[检查ODT/Vref] C -->|Write Leveling失败| E[测量CK-DQS时序] C -->|延迟校准超时| F[验证DRAM时序参数] D --> G[示波器眼图分析] E --> H[PCB走线长度检测] F --> I[SPD数据比对] G & H & I --> J[根本原因定位] J --> K[硬件/BIOS修改] ``` > **关键提示**：根据引用[1]的日志`DDR training succeeded`，成功案例中ODT/Vref联合校准是核心。若您的系统日志显示`Adjusting read/write latency`阶段卡住，需优先排查时序参数兼容性。 ---
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