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由于制造过程有PCM监控，会有大量的统计数据可用，因此，在统计上，有一个大的样本基础。除了针对模型晶圆本身测试数据选 golden die 进行的拟合 IV, CV以及调整趋势做 retargeting之外， 模型还需要有个能代表工艺波动状况的边界模型，就是我们所说的 corner 模型。图1：MOSFET不同参数的PCM统计值如图2所示，是通过使用两个不同的vth的模型参数值对反向器进行时域仿真得到的。Vth小的，会在比较早的时刻进行电平的翻转，也即我们常说的Fast。Idon绝对值越小，器件越慢。
2024-03-27 23:20:41
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原创 TPL 测试
器件ESD抗扰度测试的常规模型包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电模型（CDM），而IEC 61000-4-2和其它标准规定了系统级ESD抗扰度测试。TLP测试可作为ESD设计的一种辅助手段，因为其不仅可以比较不同TVS二极管的ESD保护性能，还可比较TVS二极管的EDS耐受性与需受保护的IC的I-V曲线。TLP测试使用宽度为纳秒量级的短脉冲，因此可在不引起热破坏的情况下获得高压、大电流区域（即ESD电压／电流区域）的I-V特性。比较TVS二极管的EDS耐受性与需受保护的IC的I-V曲线。
2024-01-15 13:20:01
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原创 关于Mask dark tone 与clear tone
1. Dark tone: 指JDV 中有颜色的部分代表有光阻，是一些line，比较重要的layer，比如AA/Poly。2. Clear tone:指JDV 中有颜色的部分代表没有光阻，是一些space或者hole，比如cont/ Met。
2023-08-27 20:18:40
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空空如也
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