本文详细介绍了sharpness的测试方法，包括斜边、Log f-Contrast、西门子星图、Dead Leaves和wedge楔形图。斜边测试因其高空间利用率和自动计算能力被广泛应用，但对锐化过强的系统评估可能偏乐观。Log f-Contrast测试对噪声敏感，能体现锐化和降噪效果。西门子星图适合展示不同方向的MTF信息，而Dead Leaves则用于测量实际场景的纹理锐化。wedge测试用于观察空间频率，对噪声和锐化都较为敏感。
sharpness 测试
测试sharpness 测试图卡
Slanted-edge(SFR SFRplus eSFRISO SFRreg Checkerboard)
Log frequency Log f-Contrast
Siemens star
Dead Leaves(Spilled Coins) Random (scale-invariant)
Wedge
斜边
优点
１，空间利用率高（相对其他测试chart而言，只需要一个斜边（5,5.7 角度不固定，避免垂直，水平，45就行））
２，可以自动计算，计算速度快（chart上有定位点，软件可以自动出结果）
３，对噪声不敏感（超采样）
４，符合ｉｓｏ１２２３３标准
不足
１，对于锐化很强的系统，给的结果相对乐观。（对比度大于１０：１）
２，对于超过奈奎斯特频路的区域，给出的结果不一致。（尤其是ｒｏｉ较小时）
sensitivity
对锐化比较敏感，对降噪算法不敏感。
其他
1，lens和camera测试MTF的主要量测方法。
2，对比度（ISO12233:
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