stm32 应用笔记_prefetch buffer stm32-优快云博客

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博客探讨了STM32F4在ADC采样过程中遇到的精度问题，发现即使在接地状态下，ADC采样值仍有较大跳动。通过查阅勘误手册，了解到内部电源噪声影响了ADC的精度。解决方法包括禁用预取缓冲器和启用数据缓存，以及应用平均和滤波算法。虽然这些措施改善了ADC精度，但可能导致STM32F4性能下降，特别是ART加速器的性能损失。文章讨论了在精确使用ADC与保持高性能之间的设计权衡。

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22.3.9 发现问题 F407 adc 采样值跳动比较大

具体描述：ADC引脚接地的情况下大概有 10个LSB 同样 F1系列 ADC 1个LSB

结果只要精度优于 F407

后来在勘误手册上找到一句话：

Description
An internal noise generated on VDD supplies and propagated internally may impact the ADC
accuracy.
This noise is always active whatever the power mode of the MCU (RUN or Sleep).
Workarounds
Two steps could be followed to adapt the accuracy level to the application requirements:
1. Configure the Flash ART as Prefetch OFF and (Data + Instruction) cache ON.
2. Use averaging and filtering algorithms on ADC output codes.

说明

在 VDD 电源上产生并在内部传播的内部噪声可能会影响 ADC 精度。无论 MCU 处于何种电源模式（运行或睡眠），这种噪声始终处于活动状态。

解决方法可以按照两个步骤来调整精度级别以适应应用程序要求：

1. 将闪存 ART 配置为预取关闭和（数据+指令）缓存打开。

2. 对 ADC 输出代码使用平均和滤波算法。

在HAL 库中对于下面2条

__HAL_FLASH_PREFETCH_BUFFER_DISABLE(); //关闭预取缓冲器
__HAL_FLASH_DATA_CACHE_ENABLE();

这样做以后对地测量大概也在2个LSB 左右，比之前好很多了。

但是这样做会降低 F4的性能

凭借 ART 加速器所获得的性能相当于
Flash 在 CPU 频率高达 168 MHz 时以 0 个等待周期执行程序

但是这个功能在想精确使用ADC 的时候必须关闭。

这是F4的设计缺陷。