lskiter的空间

         IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的)，该接口称作测试访问端口 (TAP)，用于访问复杂的集成电路 (IC)，例如微处理器、DSP、ASIC 和 CPLD。 除了 TAP 之外，混合 IC 也包含移位寄存器和状态机，以执行边界扫描功能。 在 TDI(测试数据输入)引线上输入到芯片中的数据存储在指令寄存器中或一个数据寄存器中。 串行数据从 TDO(测

              我们先来说说集电极开路输出的结构。集电极开路输出的结构如图1所示，右边的那个三极管集电极什么都不接，所以叫做集电极开路（左边的三极管为反相之用，使输入为“0”时，输出也为“0”）。对于图1，当左端的输入为“0”时，前面的三极管截止（即集电极C跟发射极E之间相当于断开），所以5V电源通过1K电阻加到右边的三极管上，右边的三极管导通（即相当于一个开关闭合）；当左端的