ADC 采样数据抖动

MSP430或STM32，在使用内部ADC出现的采样数据异常抖动问题

采样设计：

用于检测供电线路电流及电压。

产品运行在两种模式下，1、低功耗静态模式（仓储态），2、全功能全速运行模式（工作态）。

在仓储态下，所有外设均处于关闭状态，MCU也处于低功耗模式下（如MSP430处于LPM3模式，STM32处于STOP2模式下），仅保留低功耗定时器及ADC，ADC处于低速运行状态，检测的是工频信号，在一个工频周期内检测8个点的数据，每隔2.5ms采样一次。外部采样通道也通过MOS管进行开启关闭。

ADC转换器内部图：

问题1.ADC多通道连续采样，采样值异常波动

当MCU需要多通道连续采样时，ADC从设置的通道开始顺序采样到通道结束，其内部使用的是一个ADC进行对不同的采样通道的切换，在切换过程中，不可避免的需要对ADC内部RC（Cadc）进行充放电，此时就存在一个隐蔽的问题。

若不同的采样通道之间的采样幅值不同，如CHANEL1的信号为3.6V的电池电压，CHANEL2的信号为1V基准的交流信号，CHANEL3的信号为3V左右的温度信号。此时ADC先采样CHANEL1，完成后将结果写入结果寄存器，紧接着采样CHANEL2，再采样CHANEL3。

这个过程中，当不同的信道接入ADC时，外接待采样信号会通过RC回路进行充放电（这个过程需要一定的采样