【连续3届EI稳定、往届3个月检索】第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)定于2025年5月23至25日在武汉隆重举行。MVAID 2025将围绕“机器视觉”与"自动识别与检测”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，欢迎各位领域内专家学者投稿参会！

第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

2025 4th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection 

*连续三届EI稳定检索，往届均已成功见刊检索，往届最快会后3个月EI检索*

重要信息

大会官网：http://www.mvaid.net【点击参会/投稿/了解会议详情】 

大会时间：2025年5月23-25日

大会地点：武汉

截稿时间：以官网时间为准

提交检索：EI Compendex、Scopus

组织单位

大会组委

更多嘉宾信息可在【会议官网】了解

征文主题（包括但不限于）

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论文出版与检索

所有的投稿经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。（目前EI检索稳定，往届均已检索，最快会后3个月检索！）

*优秀论文经扩展后可推荐至SCI评审、发表。

投稿须知

1、论文应必须为全英文非纯综述类文章；全文提交审核；

2、论文必须是原创，且从未在其他会议或出版物上发表过；

3、禁止一稿多投；禁止抄袭；

4、流程：投稿>审稿>录用>缴费注册>见刊>检索；

5、作者投稿前可通过CrossCheck, Turnitin或其他查询系统自费查重，查重率不高于30%，

6、请到会议网站下载模板排版，排版后论文不得少于5页，不能超过15页。投稿须知随论文模板提供下载，请务必在进行缴费注册前详细阅读投稿须知。

注：付款后提交出版前因个人原因撤稿，将至少收取30%的服务费；进入出版流程后，撤稿将扣100%手续费。

参会须知

（1）报告者参会：参会并在会议上进行口头报告或海报展示，请报名参会时提交报告的题目和摘要进行审核。

（注：口头报告的摘要不提交出版）

（2）听众身份参会：出席并参加这次会议, 并可全程旁听会议所有展示报告。

注：每篇被录用的稿件可享一位作者免费参会

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