iceiilin的专栏

http://blog.myspace.cn/e/401987906.htm推挽与开漏  漏极直接输出，不接上拉电阻。如果对于场效应管印象不深，理解为普通三级管好理解：就是集电极开路。 参考资料：A：先来说说集电极开路输出的结构。集电极开路输出的结构如图1所示，右边的那个三极管集电极什么都不接，所以叫做集电极开路（左边的三极管为反相之用，使输入为“0”时，输出也为“0”）。对于图1，当左端的输入为“0”时，前面的三极管截止（即集电极C跟发射极E之间相当于断开），所以5V电源通过1K电阻加到右边的三极管上，右

RTC可以用来设置实时时钟，并产生秒中断或闹钟中断。在芯片有电源供电的情况下，系统掉电后仍能保持时钟计时。RTC设置需要涉及对电源（PWR）、备份区域（BKP）和RCC部分寄存器的改写。RTC所需的晶振在RCC部分的寄存器中选择。在芯片时钟系统中对RTC的时钟提供如下图所示。RTC时钟可以从LSI, LSE和HSE分频中选择。这些需要对RCC寄存器的一些位进行设置。RTC的预分频器、计数器和闹钟寄存器在备份区域中，以保证系统掉电后，在电池供电时仍能计数，如下图所示。在电源部分，系统复位后，将禁止向备份区域写

尽管网上的例程一堆堆，但还是花了好几天时间才跑通了一个USART通过中断方式实现的小程序。相当无比地郁闷啊。记录一下遇到的问题：1. 配置RCC的时机在主程序中通过查询方式收发数据时，结果并不稳定。对比了ST提供的例程中的设置，将RCC配置提到了所有配置的最前面后，功能实现。结论：应先配置RCC，再初始化其他外设。2. RAM下调试遇到的问题在上述查询方式的基础上，增加对NVIC的配置，USART的中断设置，以及ISR中的处理过程，放到RAM下调试，无法进入ISR。有以下两个测试结果：1）在主程序while

网上搜到很多这样的帖子，但只说到建立起一个工程，没说到怎么做出一个可以软件仿真调试的小程序；或者给了段程序代码，没说到怎么配置其他的库。我自己在RVMDK里编译的时候总是报各种各样的链接错误，摸不着头脑。摸索了一阵搞定了，步骤记录如下。1. 在工程文件夹下添加"src", "lib", "obj", "list"子文件夹.2. [project]----[new uVision project]---选择STM32F107VC---[ok]----[yes]3. [Setup file extensions

keil 4.00。在ST官网上下的固件包，用STM32F10x_StdPeriph_Lib_V3.4.0/Project/STM32F10x_StdPeriph_Template里的工程，编译正确。以下尝试了两种新建工程的方法，均失败：1。 将固件包里的例程和相应的CMSIS、StdPeriph_Driver拷到工程下，修改target options里的C/C++ include paths项为“../;../Src/App;../Src/CMSIS;../Src/Lib”，编译报错“D:/Keil/A

http://blog.chinaunix.net/u3/102275/showart_2020818.html本文主要探讨的是MDK开发工具中One ELF Section per Function选项对于代码优化的作用及其实现的机制。这里以EK-STM32F开发板的LCDDemo实验例程为例进行说明：1）在MDK的Project -> Options for Target -> Target选项卡下，在Code Generation 中选中Use MicroLIB，选择使用微库。如图1所示：图 1在Us

<br />总是在其他外设的说明里看到HCLK,PCLK类似的字眼，但没有一个清晰的逻辑概念。对系统时钟不了解的情况下，前两天试了下sysTick，情况并不理想，更不要说RTC和TIM了。于是开始看RCC。<br />逻辑框图<br />芯片运行所需的时钟源分为四种，HSE (High Speed External)，HSI，LSE，LSI (Low Speed Internal)。系统时钟频率可以通过软件进行控制，设置分频倍频值和该计算的时钟源；对于芯片各外设和总线来说，都有自己运行所需要的时钟，要根据用

中断设定某方向的加速度阈值，当传感器测量值超过该阈值时，传感器输出中断信号。信号通过IO扩展芯片的中断管脚与MCU的GPIO相连，进而能在传感器超过阈值时，系统进入ISR。程序初始化时需要进行的与中断有关的设定如下，设定都是通过对寄存器的改写实现的：MEMS：设定输出给IO扩展芯片管脚的中断的高/低电平有效设定中断为非锁存模式。（锁存模式即中断信号需要在读取某个寄存器后才能清除）设定中断的方向和阈值。IO扩展芯片：设定输出给MCU IO口的中断的高/低电平有效，及level/pulse方式使能全局中断功能使

NVICNested vectored interrupt controller。嵌套向量中断控制器。它是STM32 core peripherals的其中之一，其余为system timer, system control block和memory protect unit。从NVIC的vector table中看出，NVIC type按照优先级从高到低的顺序，可以分为Reset, NonMaskable Interrupt(NMI), Hard Fault, Memory management faul

<br />仔细看了下reference manual，需要区分两个名词：<br />输入时钟频率 peripheral input clock frequency。分为at least 2MHz in Standard mode & 4MHz in Fast mode。需要在I2C_CR2寄存器中写入。<br />通讯速度 communication speed。分为standard speed (up to 100kHz) & fast speed (up to 400kHz)。需要使用CR2中写入的频

MEMS控制原理在程序动作前，需要初始化系统中断向量表（使用NVIC_SetVectorTable函数），配置系统时钟、使能各外设时钟（SystemInit，RCC_APB2PeriphClockCmd，RCC_APB1PeriphClockCmd）。1。GPIOPB6,PB7分别作为SCL和SDA。查找STM32芯片手册的AFIO部分，将PB6,PB7作为SCL和SDA使用不需要进行重映射，因此只需初始化其模式、速度。2。I2C（1）外设时钟频率外设时钟频率fPCLK1需写入CR2寄存器的最低六位，写入值

买的stm32F107VC开发板，带三轴加速度传感器LIS302DL，附带的示例代码。学习了几天，总结如下。1。逻辑结构初始化各外设（RCC,GPIO,SPI,NVIC,I2C,LCD）——检测MEMS并显示检测状态——在死循环中不断查询加速度值并描画。2。硬件原理与该程序相关的硬件连接图：MEMS连接图MEMS引出脚与MCU(左)、IO扩展（右下）连接图LCD连接图LCD引出脚与MCU（左）、IO扩展（右上）连接图从图中可以看出，MEMS使用I2C接口SCL和SDA连接MCU；LCD使用SPI3接口连接M

stm32f107vc开发板，uvision V4.00u，JLINK V8，J-Link ARM V4.08l。flash 下调试方法：1.打开要调试的工程，左栏工程上右击options for target。进入debug中选择jlink.2. utility中选择jlink.3. 用JLINK连接PC和开发板，打开开发板电源。进入旁边的settings，添加flash烧写方法。4。一路OK回去，rebuild，ctrl+F5进入调试，可以单步和断电。根据ST公司的reference manual 2.

hard fault在调试RTC过程中，程序在主循环中执行两次后就进入hard fault的while(1)中断，keil显示调试窗口显示imprecise data bus error。完善RTC配置的时序也无济于事。网上查到一些hard fault的资料：2.3.2对hard fault, bus fault等有具体的解释。keil的网站上http://www.keil.com/app