44、延迟测试技术全解析

延迟测试技术全解析

1. 路径延迟测试基础

路径延迟测试在数字电路检测中至关重要，但也面临着诸多挑战。在路径延迟测试里，尽可能寻找更多的鲁棒测试是有价值的，因为某些路径的鲁棒测试可以提高其他路径非鲁棒测试的可靠性。例如，在特定电路中有六个路径延迟故障是鲁棒可测试的，而路径 P2 仅有非鲁棒测试。通过包含这六个鲁棒测试，能确保若电路通过这些测试，路径 P2 的非路径输入处不会有延迟信号，此时路径 P2 的非鲁棒测试就如同鲁棒测试，这种测试被称为可验证非鲁棒（VNR）测试。

路径延迟故障有不同类型：
- 可测试路径 ：上升和下降路径延迟故障都能单独（非鲁棒地）测试的路径。
- 部分可测试路径 ：有一个单独可测试的路径延迟故障和一个单独不可测试的路径延迟故障的路径。
- 单独不可测试路径 ：路径的两个路径延迟故障都没有非鲁棒测试的路径，这类路径可通过保持逻辑功能的电路变换消除。

不可测试路径（部分可测试路径也可能）与一个或多个冗余单固定故障相关，像去除冗余这样保持功能的变换可以消除这些路径。不过，部分可测试路径不一定有冗余固定故障，但有修改电路的方法来暴露可去除的冗余故障，得到的电路路径更少、可测试路径比例更高、整体延迟更低，但可能尺寸更大。

组合电路中存在一些路径，其延迟不会影响输出信号的变化时间，这些路径被称为假路径。单独不可测试的路径延迟故障的路径并不总是假路径，因为它们可能与其他单独不可测试的路径延迟故障共同敏感化，若所有共同敏感化的路径都有过量延迟，电路的时序就会受影响。这也是在确定电路时钟周期时仍要考虑路径延迟的