STM32L151低功耗芯片待机测试例程
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简介
本仓库提供了一个针对STM32L15xx系列低功耗芯片的低功耗待机测试例程。该例程通过中断唤醒方式，帮助开发者了解和掌握STM32L151芯片在低功耗待机模式下的性能与功能。
资源描述
本资源包含了STM32L151系列低功耗芯片的低功耗待机测试例程，适用于开发者在设计低功耗应用时进行测试与验证。例程涵盖了中断唤醒机制，使得芯片在待机状态下能够快速响应外部事件，从而降低整体功耗，提高系统效率。
注意事项
- 请确保您已具备STM32L151系列芯片的开发环境和基础知识。
- 在使用测试例程前，请仔细阅读相关文档和说明，以确保正确配置和运行。
- 测试例程仅供参考，具体应用时请根据实际需求进行修改和完善。
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创作声明：本文部分内容由AI辅助生成（AIGC），仅供参考
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