为什么要做scan extraction？

关于DFT的相关探讨
最新推荐文章于 2024-11-23 21:48:04 发布
原创 最新推荐文章于 2024-11-23 21:48:04 发布 · 1k 阅读 · 1 ·
CC 4.0 BY-SA版权
版权声明：本文为博主原创文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版权协议，转载请附上原文出处链接和本声明。
文章标签：

#DFT

由于博客内容为空，暂无法提供包含关键信息的摘要。

文章目录


为什么要做scan extraction，既然你是DFT designer，scan就是由你完成的，为什么还要做extraction的动作。
因为当你完成insertion过后，后续Designer可能会进行修改你的netlist，比如做ECO(去掉一个scan FF)等操作,所以，DFT人员在拿到这份修改后的netlist后，是需要重新得到scan_path等信息的spf文件。因此需要做scan extraction。

DFT理论知识 scan insertion详解
Loving_enjoy的博客
09-17 1095
DFT 理论知识：SCAN Insertion 详解 ， 原理，目的，示例举例等
SCAN BASIC --- PARTIII scan and atpg flow
sinat_27691203的博客
09-08 2167
前面章节介绍了scan 的基本概念以及测试流程。本小节介绍scan 的形成和atpg flow。
scan design flow(二)
ahr7882的博客
07-28 628
在scan stitch之后，scan synthesis就已经完成， Scan extraction主要用来从scan design中extracing所有的instance，来保证scan chain的完整性。 并保证所有的design change都整合到scan design。 Scan Verificaiton 1)在shift operate中的hold tim...
DFT专家分析scan insertion时使用EDT的策略
Loving_enjoy的博客
11-23 817
EDT是一种在芯片设计阶段就嵌入测试逻辑的技术，旨在提高芯片的可测试性，降低测试成本，并提升测试覆盖率。作为一名芯片设计DFT工程师专家，在做scan insertion（扫描插入）时使用EDT（Embedded Deterministic Test，嵌入式确定性测试）的参数配置策略，需要综合考虑多个方面的因素，以确保测试的高效性、准确性和成本效益。通过合理的参数配置和测试策略，可以提高测试效率、降低成本并提升芯片的可靠性和质量。策略：根据芯片的故障模型和测试需求，选择合适的测试策略。
DFT工程师专家讲述如何做好scan insertion
Loving_enjoy的博客
11-23 794
扫描连接（Scan Stitching）：将所有扫描单元连接在一起以形成扫描链，包括将每个扫描单元的扫描输出（SO）连接到下一个扫描单元的扫描输入（SI），以及将每个扫描链的首尾连接到适当的扫描链输入/输出端口。扫描配置（Configure scan settings）：描述扫描链规划的初始设置，确定扫描设计的总体结构，包括扫描链数量、扫描单元类型、扫描单元在扫描链内的布置方式等。扫描重新排序（Scan Reordering）：基于物理扫描单元位置对扫描链中的扫描单元重新排序，以最小化扫描链的连线数量。
精选资源
laser_line_extraction:ROS软件包，可从LaserScan消息中提取线段
04-29
激光线提取 激光线提取是一个软件包，可从消息中提取线段。 由创建，最初用于。 这是运行中的“激光线提取”程序包的外观： 在上图中，白点是LaserScan消息中的点，红线是通过“激光线提取”提取的点。...
Scan Pattern retargeting
weixin_44954910的博客
05-16 1307
Scan pattern retargeting提高了效率和生产力，生成core-level test patterns，为了在top-level中reuse，retarget这些core-level的test patterns。多个core的pattern可以在chip level中merged并同时应用。该功能可用于包括对于ATPG工具支持的任何配置的core。这包括EDT blocks或者未压缩的chains，pipeline stages、low power，以及shift长度变化的cores。
LIO-SAM featureExtraction
xiaoma_bk的博客
05-19 391
featureExtraction1、FeatureExtraction1.1 类成员变量1.2 构造1.3 激光数据回调calculateSmoothness标记遮挡点 markOccludedPointsextractFeaturespublishFeatureCloud 1、FeatureExtraction 1.1 类成员变量 1、订阅 激光数据 发布 点云数据+角特征+面特征 2、提取点云 角点云 面点云 3、将采样 ros::Subscriber subLaserCloudInfo; ros
LVI-SAM LIS featureExtraction代码阅读
努力coding
03-25 1008
对于当下多传感器融合框架，LVI-SAM、R2LIVE和R3LIVE成为团队研究的热点和重点，今天写一下featureExtraction.cpp的代码阅读。 头文件 #include "utility.h" // 包含了本系统中所需要的各种初始定义，位于本地文件夹下 #include "lvi_sam/cloud_info.h" // 点云的基本信息，也包含了imu 和 odom的成员变量 这个头文件包括了两个，一个是utility，另一个是cloud_info，这个在后面用的比较多，它是作者
Mentor-dft 学习笔记 day38-Scan Pattern Retargeting(3)
qq_42327670的博客
12-09 1778
Scan Pattern Retargeting(3)
Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
qq_42327670的博客
10-27 2556
Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
DFTug - Getting Started（下篇）
ciscomonkey的博客
02-22 3087
文章目录引言Performing Scan ExtractionHierarchical Scan Synthesis 引言 本篇博客是对DFTug的第六章Getting started进行介绍。是对DFTug的一个总结，并加上了一个自己的理解，并希望对一些重要的的脚本进行背住，而不是记住一个大概，因为只有背住，完全写出来，才能给人感觉是非常专业的。 Performing Scan Extraction Scan extraction 仅仅支持标准的scan design,并不支持extract scan
scan design flow(一)
ahr7882的博客
07-16 1218
一个典型的scan实现的flow： clock mux和一些rst，在Scan中都被bypass掉，是不能测到的。所以DFT的test coverage一般就在97%或98%。 scan design rule checking and repair： 可以在presynthesis RTL design或者postsynthesis gate-level design上...
DFT_02 scan synthesis(scan chain)简单原理
lucifer51的博客
03-09 7311
DFT scan synthesis(scan chain)简单原理 从检测难度看 sequential circuit > combinational circuit 多级时序不易观测中间信号，且准确性较差，需要进行辅助性设计 DFT scan synthesis(scan chain)： 主要包含两个步骤：1.scan replacement 2.scan stitching...
IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
cp19880313的专栏
10-26 6435
在很大规模的IC设计中，往往会有一些各种各样的bug出现，不论是在前期design的过程，还是在post silicon流片回来chip的flaw，都会导致chip的功能的失败，时钟频率无法达到期望频率。 所以，在超大规模集成电路的设计中，DFT就是一门非常重要的方法学，在消费者手中，往往不知道他们的存在，但是在IC工程师眼中，DFT往往会是一个救命的稻草，让我们在芯片出问题的时候，可以知道从哪
DFT-scan
JayKe
03-17 3256
前言 通俗来讲，制造过程中由于粉尘颗粒，工艺偏差等因素，难免会引入制造缺陷，导致晶体管短路或断路，然后不能正常工作。DFT技术其实就是把DFT逻辑加入到芯片设计中，然后等芯片制造回来，通过事先加入的DFT逻辑对芯片进行体检，挑出体格健壮的芯片，保证送到客户手上的芯片是没有故障的。 DFT指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。 测试与验证的区别 验证（Verification）的目的是检查设计中的
备考规划考研复习全周期管理策略：论文重点突破与高并发项目实践结合方案设计
最新发布
12-07
内容概要：本文围绕一场重要考试的备考规划展开，详细列出了复习资料（如视频、脑图、红宝书）、学习方法（看视频2-3遍、夯实基础）、重点任务（细看论文视频、专注近2年真题）以及阶段性
数据基于进化k均值聚类和溶解气体子集分析的混合DGA方法，用于电力变压器故障诊断
12-07
【数据】基于进化k均值聚类和溶解气体子集分析的混合DGA方法，用于电力变压器故障诊断
3HAC035753-002_rev00.pdf
12-07
3HAC035753-002_rev00
SCAN：基于UIMA的语义内容注释器
总结以上知识点，Scan-开源项目利用UIMA框架构建了一个语义内容注释系统，该系统通过信息提取、本体控制以及RDF存储技术，帮助用户将非结构化数据转换为结构化的语义数据。该项目还提供了一套插件接口，方便用户根据...
评论
成就一亿技术人!
拼手气红包6.0元
还能输入1000个字符
 
红包 添加红包
表情包 插入表情
表情包 代码片
 条评论被折叠 查看
添加红包

请填写红包祝福语或标题

个

红包个数最小为10个

元

红包金额最低5元

当前余额3.43元 前往充值 >
需支付：10.00元
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付元
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明：

1.余额是钱包充值的虚拟货币，按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载，可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值