leetcode H-Index

本文介绍了一种高效求解H指数的方法。通过遍历引用次数并统计每种引用次数的文章数量,进而找到满足H指数定义的最大值。此方法避免了直接排序带来的复杂度,适合处理大规模数据。

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思路:
建立一个记录。记录的是这个被引用文章出现的次数。因为最大的H值就是文章数。对于引用次数超过文章数的文章按照引用次数为文章数记录。
当遍历到某一个H值的时候,对应的sums数组里面存储的就是超过这个引用次数的文章数。如果这个h满足题意。那么就返回

public class Solution {
    public int hIndex(int[] citations) {
        int n=citations.length;
        int sums[]=new int[n+1];

        for(int i=0;i<n;i++)
        {
            int temp=citations[i];
            if(temp>n)
            {
                temp=n;
            }
            sums[temp]++;
        }



        for(int i=n;i>0;i--)
        {
            if(sums[i]>=i)
            {
                return i;
            }
            sums[i-1]+=sums[i];
        }
        return 0;
    }
}
内容概要:本文系统介绍了基于C#(VS2022+.NET Core)与HALCON 24.11的工业视觉测量拟合技术,涵盖边缘提取、几何拟合、精度优化及工业部署全流程。文中详细解析了亚像素边缘提取、Tukey抗噪算法、SVD平面拟合等核心技术,并提供了汽车零件孔径测量、PCB焊点共面性检测等典型应用场景的完整代码示例。通过GPU加速、EtherCAT同步等优化策略,实现了±0.01mm级测量精度,满足ISO 1101标准。此外,文章还探讨了深度学习、量子启发式算法等前沿技术的应用前景。 适合人群:具备一定编程基础,尤其是熟悉C#和HALCON的工程师或研究人员,以及从事工业视觉测量与自动化检测领域的技术人员。 使用场景及目标:①学习如何使用C#和HALCON实现高精度工业视觉测量系统的开发;②掌握边缘提取、抗差拟合、3D点云处理等核心技术的具体实现方法;③了解工业部署中的关键技术,如GPU加速、EtherCAT同步控制、实时数据看板等;④探索基于深度学习和量子计算的前沿技术在工业视觉中的应用。 其他说明:本文不仅提供了详细的理论分析和技术实现,还附有完整的代码示例和实验数据,帮助读者更好地理解和实践。同时,文中提到的硬件选型、校准方法、精度验证等内容,为实际项目实施提供了重要参考。文章最后还给出了未来的技术演进方向和开发者行动建议,如量子-经典混合计算、自监督学习等,以及参与HALCON官方认证和开源社区的建议。
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