电源完整性
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这个作者很懒，什么都没留下…
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IC电源完整性问题形成原因分析(下)
本文聚焦 IC 电源完整性问题，鉴于理论需实践验证，采用电路仿真技术深入探究。在研究中，精准设定内核电路与 IO 电路相关参数并构建仿真拓扑。经仿真分析，发现内核电路中 PDN 电压损耗与电感正相关，IO 电路里并行传输线通道数量影响信号及电压，且 PDN 电感对其也有作用。最终验证理论成果，明确关键因素影响，助力电路设计优化与行业发展原创 2025-01-12 07:00:00 · 837 阅读 · 0 评论 -
IC电源完整性问题形成原因分析(上)
电源完整性对电路系统设计影响颇深，其形成原因复杂。本文专业剖析芯片内核电路与接口电路结构，严谨推导公式，深入探究影响 PDN 电压因素，为理解和解决该问题提供坚实理论基础。原创 2025-01-05 11:56:05 · 773 阅读 · 0 评论