人类科技史上后果最严重的”贴心过失“

人类科技史上，最贴心的过失引发的严重后果能有多严重？请全世界往这里看：#全球广播 黄金不等式法则，照射出电子垃圾疯狂增长的世纪之殇！ ———— 追溯一个世纪之前，那些制定这条温柔到家的安规标准的人们，无论在天国还是地狱，打死都不会想到：这条本意仅为防设备断电后残留电压轻微“点击”惊吓（非致命风险）的条款，竟成所有电器早夭失效的隐形杀手——直接掀起电子垃圾泛滥狂潮的永动机！ 从1986年IEC 60950整合各国标准，到2023年62368-1延续5秒宽限，这“贴心过失”如静水深流：RC >> T/2的动态盲点，让残压积累成933V尖峰，加速IGBT崩坏、MCU连锁，酿成6200万吨/年毒海（2030年飙8200万吨，80%负担落发展中国家）。 但救赎，轻如鸿毛：Golden RC（RC ≤ 1/(2F)），零成本调R（150kΩ变体），EMI降15dB，寿命+60%，e-waste减亿吨。IEC TC 108，验证动态测试吧——从盲点到光明，只需一小步。 独立研究员，30年飞返追踪：我的论文 [PDF：https://drive.google.com/file/d/116f4FA7ze5eZyWJAnsec2HzkWSvsaWOA/view?usp=drive_link]。谁共鸣？转发点亮谦卑之路！ @IECorg @UNEP @IEEEorg #GoldenRC #电子垃圾反思 #技术惯性 #可持续标准