一 概述
DI-1nS-1n4148可以测试反向恢复时间小于350nS的信号二极管,精度0.1nS,尤其擅长测试反向恢复时间小于6nS的高速信号二极管。仪器采用恒流工作模式和脉冲恒流工作模式,测试二极管反向恢复时间稳定可靠。
二 应用范围
高速信号二极管

三 测量原理
它包括下降沿触发发生器模块、可调电源、高速比较和FPGA 测试模块等组成。通过VR设置电位器可调节DI-1nS-1n4148下降沿脉冲的幅度,从而改变二极管反向恢复电流大小。通过调节Vadj
DI-1nS-1n4148是一款专为测试高速信号二极管反向恢复时间设计的设备,具备0.1nS的精度,尤其适合测试6nS以下的恢复时间。该仪器采用恒流和脉冲恒流模式,通过VR和Vadj电位器调节电流,结合高速比较器和FPGA模块实现高精度测量,降低了对示波器的依赖,提供连续和脉冲工作模式以适应不同测试需求。
一 概述
DI-1nS-1n4148可以测试反向恢复时间小于350nS的信号二极管,精度0.1nS,尤其擅长测试反向恢复时间小于6nS的高速信号二极管。仪器采用恒流工作模式和脉冲恒流工作模式,测试二极管反向恢复时间稳定可靠。
二 应用范围
高速信号二极管

三 测量原理
它包括下降沿触发发生器模块、可调电源、高速比较和FPGA 测试模块等组成。通过VR设置电位器可调节DI-1nS-1n4148下降沿脉冲的幅度,从而改变二极管反向恢复电流大小。通过调节Vadj
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