Agitek008的博客

然而，实际测试过程中，外界干扰、仪器设置不当等因素常导致测量误差。LCR测试仪采用交流电桥法测量电容值，其基本原理为通过正弦激励信号检测被测电容（$C_{x}$）与标准电容（$C_{s}$）的电压相位差（$φ$），根据公式$C_{x}=C_{s}×tanφ$计算待测电容值。然而，实际电路中寄生电感（$L_{x}$）、寄生电阻（$R_{x}$）及测试线缆的分布参数会引入附加阻抗，导致测量误差。对于高频（>1MHz）测量场景，推荐使用SMD测试夹具，其低寄生电感（<0.2nH）特性可满足高频电容测试需求。