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5.4 自适应对消比(Cancellation Ratio, CR)
自适应相控阵天线的地面测试验证是雷达系统研制中的关键环节。对于大孔径阵列,传统远场测试需满足瑞利距离 $2D^2/\lambda$,往往长达数公里;而紧缩场反射面口径又需为被测天线的两倍以上,且难以实现多干扰源场景。聚焦近场自适应置零技术通过在近距离处复现远场方向图特征,将测试距离缩短至 1 –2 倍孔径直径,使得在微波暗室内即可完成多干扰源自适应置零性能评估。第三讲已建立了该技术的理想阵列模型,本讲进一步引入矩量法(Method of Moments, MoM)阵列互耦效应,分析部分自适应(旁瓣对消)架构下的近远场等价性。
1. 引言
自适应天线系统的主要功能包括抑制干扰与噪声、抑制雷达杂波以及检测雷达目标。为验证大孔径自适应相控阵在复杂电磁环境下的置零性能,需在测试场中布置多个空间分离的干扰源。然而,远场条件要求测试距离:
$$R = \frac{2L^2}{\lambda} \tag{1}$$
其中 $L$ 为孔径长度,$\lambda$ 为工作波长。对于 $L=20m$ 的大型阵列:
在 $f=1GHz$($\lambda=0.3m$)时:$R = \frac{2 \times (20)^2}{0.3} \approx 2667m \approx 2.7km$
在 $f=10GHz$($\lambda=0.03m$)时:$R = \frac{2 \times (20)^2}{0.03} \approx 26667m \approx 27km$
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