java 基础练习 芯片测试

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

***提交时注意里面的注释以及提示输入语句***

import java.util.Scanner;

public class 芯片测试 {
	public static void main(String[] args) {
		Scanner in = new Scanner(System.in);
		System.out.println("输入n");
		int n = in.nextInt();
//		定义二维数组
		int[][] arr =new  int[n][n];
//		依次输入数据
		for(int i = 0;i<n;i++) {
			for(int j = 0;j<n;j++) {
				arr[i][j] = in.nextInt();
			}
		}
		
//		定义数据
		int count = 0;
//		定义一个数据，判断数量
		int sum = 0;
//		开始(遍历)查找
		
		for(int q = 0 ;q<n;q++) {
			sum = 0;
			for(int o = 0;o<n;o++) {
				if(arr[o][q]==1) {
					sum++;
				}
			}
			if(sum>n/2) {
				System.out.print((q+1)+" ");
			}
		}
	}
}