Keysight E5080B 矢量网络分析仪
—— 高精度、高效率的射频器件测试解决方案
突破测试极限,赋能下一代无线技术
在5G通信、毫米波雷达、航空航天及半导体等领域,对射频器件的精确表征需求日益增长。是德科技(Keysight Technologies)E5080B矢量网络分析仪(VNA)凭借其卓越的测量精度、超宽频率覆盖和高效的测试流程,为工程师提供从研发到量产的完整测试解决方案,助力客户加速产品上市并确保性能可靠性。
核心优势与技术亮点
1. 超宽频率覆盖,满足多样化测试需求
频率范围:9 kHz 至 53 GHz(可扩展至110 GHz或更高)
支持5G毫米波(FR2)、卫星通信、高速数字互连(PCIe/USB/Thunderbolt)及太赫兹研究
4端口配置,支持多端口器件(如滤波器、双工器、天线阵列)的并行测试
2. 业界领先的测量精度与稳定性
动态范围 >140 dB(10 GHz),可精确测量高抑制比器件
迹线噪声低至0.001 dB RMS,确保微小信号变化的可靠检测
温度稳定性 ±0.01 dB/°C,适用于严苛环境下的长期测试
3. 高效测试与深度分析能力
快速扫描速度:200 μs/点(全双端口校准),大幅提升产线吞吐量
高级时域分析(TDR/TDT),支持高速数字通道的阻抗匹配与故障定位
非线性测量选件(X参数),精准表征功率放大器等有源器件的非线性特性
4. 智能化操作与系统集成
触摸屏界面 + 远程控制,支持SCPI/LabVIEW/Python自动化集成
内置夹具仿真与去嵌入功能,消除测试夹具影响,提升实测精度
兼容是德科技PathWave软件,实现数据可视化与深度分析
典型应用场景
1. 5G/6G通信器件测试
毫米波天线阵列的S参数与辐射模式表征
基站滤波器/双工器的带外抑制比测试
2. 航空航天与国防电子
相控阵雷达T/R组件的多端口校准与匹配优化
高可靠性射频电缆组件的插损与相位稳定性验证
3. 半导体与高速互连
封装寄生参数提取与SI/PI分析
PCIe 6.0/USB4通道的阻抗连续性测试
4. 卫星与量子通信
低噪声放大器(LNA)的噪声系数与增益平坦度测量
太赫兹波导器件的损耗与模式纯度分析
为什么选择 Keysight E5080B?
✅ 极限测量性能:53 GHz带宽、140 dB动态范围、0.001 dB迹线噪声
✅ 测试效率革命:200 μs/点扫描速度 + 并行多端口测试
✅ 全生态支持:PathWave软件 + X参数非线性分析 + 太赫兹扩展能力
Keysight E5080B——以纳米级精度与智能测试流程,重新定义网络分析标准!