JATG调试器详解

通常所说的JTAG大致分两类：
一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；
一类用于Debug；
一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。
一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只要时钟正常，就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）内置模块的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。
上面说的只是JTAG接口所具备的能力，要使用这些功能，还需要软件的配合，具体实现的功能则由具体的软件决定。
下面我首先介绍一个JTAG几条线的作用：
Test Clock Input(TCK)
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的，TCK在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
Test Mode Selection Input(TMS)
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间互相转换。TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
Test Data Input(TDI)
TDI是数据输入的接口，所有要输入到特定寄存器的数据都是用过TDI接口一位一位串行输入的(由TCK驱动)，TDI在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
Test Data Output(TDO)
TDO是数据输出的接口。所有要从待定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的(由TCK驱动)。TDO在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。
Test Reset Input(TRST)
TRST可以用来对TAP Controller进行复位(初始化)。不过这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。通过TMS可以对TAP Controll进行复位(初始化)。所以有四线JTAG和五线JATG之分