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原创 半导体三极管β值测量仪的设计与制作

在电子技术领域，三极管作为基本放大元件，其放大系数β的准确测量对于电路设计和故障排查至关重要。由于三极管β值的物理不可直接测量特性，决定了参数获取必须依赖电学参量转换法。因此，本次设计测量方案的核心指导思想基于半导体器件物理模型与外部电路参数映射关系，通过建立β值与可测电学量（包括待测三极管集电极电流IC,V-F转换频率f等）之间的数学解析模型，实现β值的间接高精度测量。