STM32 ADC平均值采样和有效值采样算法比较
嵌入式系统中,模数转换器(ADC)常用于将模拟信号转换为数字信号。在STM32微控制器中,ADC模块提供了多种采样算法,其中包括平均值采样和有效值采样。本文将比较这两种算法的优缺点,并提供相应的源代码示例。
- 平均值采样算法
平均值采样算法是将多次采样的结果进行平均,以获得更稳定的测量值。该算法的基本思想是对一定数量的采样值进行累加,然后除以采样次数得到平均值。以下是使用平均值采样算法进行ADC采样的示例代码:
#include "stm32f4xx.h"
#define NUM_SAMPLES 10
uint16_t<
STM32微控制器的ADC模块支持平均值和有效值采样算法。平均值采样通过多次采样并求平均提高稳定性;有效值采样则适用于交流信号的测量。文章探讨了两者优缺点,并提供了源代码示例。
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