S32K118芯片使用Flash模拟EEROM进行写操作时有一定概率会使PDB模块的功能瘫痪

在何种情况下遇到的这个问题：使用S32K1系列芯片开发产品，同时用到了ADC采集与EEROM读写功能，官方推荐使用PDB触发ADC，另外这款芯片支持将芯片中的一部分空间模拟成EEROM，进行读写操作。对单个功能进行调试，ADC采集与EEROM读写都可以实现，但是当两者出现到一个工程中，会出现ADC采集功能瘫痪的问题。

注:本文仅是个人遇到问题后，自我总结的文章，所述见解不一定正确和通用，因此所述内容不可用于任何商业活动！！！  使用单片机制作产品或DIY时，请充分评估与规避风险，以免造成个人损失。

各位读者，如果遇到类似问题，欢迎在评论区讨论，如果发现我之观点有任何不妥之处，请批评指正。

现象描述：

现象1：

EEROM每次读写120字节数据，读写请求频率低于10Hz，ADC采样频率接近1KHz，则ADC中断回调函数停止访问(只要执行写操作就会停止)；

现象2：

EEROM每次读写120字节数据，读写请求频率低于10Hz，ADC采样频率低于30Hz，则ADC中断回调函数访问正常，不会停止访问；

现象3：

EEROM每次写4字节数据，读请求的频率低于30Hz，ADC采样频约为1KHz，

将EEROM写操作放在LPIT回调函数中运行（定时任务），则ADC中断回调函数有一定概率会停止访问；

现象4：

EEROM每次写4字节数据，读请求的频率低于30Hz，ADC采样频约为1KHz，

将EEROM写操作放在main函数中运行（通过写请求标志位控制），则ADC中断回调函数访问正常，不会停止访问；

现象总结：

芯片上电后是对EEROM进行读操作，往往不会出现ADC中断回调函数停止访问的问题，对EEROM进行写操作，ADC中断回调函数停止访问的概率与EEROM写入的字