NFC之华为AIPASS认证：测试用例简介

在《NFC之华为AIPASS认证：测试系统简介》中我们了解了AIPASS测试系统中的测试工具，即：用什么来测试。

本章开始，我们来了解AIPASS测试用例，如下是用思维导图理出来的一个用例列表图——

该用例包括射频兼容性技术要求、协议兼容性技术要求、AID使用规范、互操作成功率技术要求、端到端刷卡时间技术要求，所测试的对象为华为生态链支持NFC的设备，包括智能门锁、汽车钥匙、社区门禁、公共交通收费机等。

载波频率

NFC读写设备的载波频率需保证在13.56MHz±10kHz范围内。

最小发射场强

发射场强直接影响到刷卡距离和体验，发射场强过小会导致刷卡距离短甚至刷卡失败。该测试分别使用NFC Forum Listener1、3、6进行测试，使用82ohm负载

最大发射场强

发射场强过大可能导致近距离刷卡时因为信号饱和而导致刷卡失败，同时发射场强过大也会带来更高的功耗。该测试分别使用 NFC Forum Listener1、3、6进行测试，使用82ohm负载

波形调制质量

NFC读写设备的发射信号调制质量直接影响刷卡效果，如果发射波形失真严重会直接导致刷卡失败。该测试使用NFC Forum Listener 1测试；

NFC读写设备协议兼容性

包括：上电等待保护时间、APDU响应超时机制测试、选择确认ASK协议字段兼容性、Mifare鉴权/读命令/写命令超时间测试、卡在位检测

AID技术规范

AID是用于寻址卡中应用的标识，当前大多数智能NFC终端支持模拟多张不同的卡片应用，当前大多数城市交通卡采用交通部或住建部的AID来选择应用，而门禁和智能门锁没有统一的AID，这对于智能终端识别和智能选择匹配的卡片带来很大的障碍，因此华为AIPASS制定了AID使用规范——

AID其由注册的应用提供商标识RID和扩展的专用应用标识PIX组成，RID由华为颁发，PIX则用于区分应用发行者的不同应用，由华为Wallet Kit开发者平台自动生成。

进行该测试时，为排除射频性能影响，应该在射频性能良好的刷卡点位进行。

互操作成功率测试

测试方法：使用机械臂夹持华为手机/穿戴产品，以1m/s的速度快速靠近NFC读写设备，等待2s后快速离开，

判定方法：统计在不同点位多次交易的综合成功率是否>=90%，如果成功率满足达标，且所有高度的中心点必须交易成功，满足两个条件测试通过，否则测试不通过

交易时间测试

在静止条件下，检查待测试NFC读写设备完成一次正常的端到端刷卡交易所需要的时间，该测试需要覆盖测试规范中所列出的所有设备。

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