高级电源分析解决方案

随着半导体工艺的提高，大规模数字电路广泛应用，高速数字电路的集成度越来越高，在单芯片内集成了千万个数字门电路。大规模的门电路在开关切换时，会产生开关噪声、串扰和供电电源变化等问题。

特别是现在随着芯片制艺的发展，国内已出现5nm制程的芯片，国际上更是高达2nm甚至更低。如此高集成度的芯片要求供电电压越来越低，反之电流将越来越大，留给电源工程师的噪声裕量越来越少，甚至随着高速信号的发展，电源质量也成为影响信号质量的一个重要部分，所以在电源系统中对于电源完整性的测试显得尤为重要。