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 Automatic Test Pattern Genaration(ATPG)自动测试图形向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载与器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有效性是衡量测试错误覆盖率的重要指标。        一个ATPG的周期可以分为两个阶段：    1、测试的生成    2、测试的应

测试的目的：1，检验出不合格产品。2，如果不合格，找出问题点。如果一个产品没有通过测试，可以通过一些方面来判定问题的原因。1）测试本身的问题；2）设计的问题；3）制造的问题；4）specification 的问题。测试本身的权威性往往是设计人员所挑战的，所以对于测试人员来说要对集成电路测试有充分的了解。集成电路中测试主要包括两种：设计验证和量产测试两者分别对应不同的目的，设计验

 逻辑模拟是指计算机模拟计算给定的电路在给定的输入向量下电路中的各种引线的稳定逻辑值。逻辑模拟常用于设计验证中，它的各种基本理论是故障模拟的基础。故障模拟是指在给定的输入向量下用计算机模拟计算电路中确定的故障时候的响应，目的是为了考察输入向量能否检测出给定的故障。在进行逻辑模拟和故障模拟前要对电路做一些理论方面的分析简化。引线分级，电路层次化，为以后分析简化提供一个结构化模型。信号状态的模