Cortex-M3权威指南 chpt15-调试系统架构

目录

15.1 调试特性概览

15.2 CoreSight 技术概览

15.2.1 处理器的调试接口

15.2.2 DP 模块， AP 模块和 DAP​

15.2.3 跟踪接口

15.2.4 CoreSight 的性质​

15.3 调试模式

15.4 调试事件​

15.5 Cortex-M3 中的断点

15.6 调试时访问寄存器

15.7 内核的其它调试特性

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15.1 调试特性概览

15.2 CoreSight 技术概览

15.2.1 处理器的调试接口

15.2.2 DP 模块， AP 模块和 DAP

15.2.3 跟踪接口

15.2.4 CoreSight 的性质

15.3 调试模式

15.4 调试事件

15.5 Cortex-M3 中的断点

15.6 调试时访问寄存器

15.7 内核的其它调试特性