I/O 对APP性能的影响

本文探讨了磁盘I/O对APP性能的影响,包括时延增加、ANR及随机卡顿等问题,并介绍了StrictMode、Systrace及Strace三种检测工具的特点与局限。最后给出了减少磁盘I/O影响的建议,例如避免主线程I/O操作、提高I/O效率和减少无效I/O。

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一、磁盘I/O对APP的性能影响

主要有三种:时延增加,ANR,随机卡顿

 

二、现有的三种磁盘I/O测试工具

1、StrictMode

StrictMode意思为严格模式,是用来检测程序中违例情况的开发者工具。最常用的场景就是检测主线程中本地磁盘和网络读写等耗时的操作。

缺点:无法检测子线程磁盘I/O

2、Systrace

Systrace 是 Android 4.1 中新增的性能数据采样和分析工具。它可帮助开发者收集 Android 关键子系统(如 surfaceflinger、WindowManagerService 等 Framework 部分关键模块、服务,View 系统等)的运行信息,从而帮助开发者更直观的分析系统瓶颈,改进性能。Systrace 的功能包括跟踪系统的 I/O 操作、内核工作队列、CPU 负载以及 Android 各个子系统的运行状况等。

缺点:定位问题麻烦且发现问题单一,可用机型有限(只在Android 4.1+支持,非原生的ROM如CM可能不支持)

3、Strace

Strace是一个可用于诊断、调试和教学的Linux用户空间跟踪器。我们用它来监控用户空间进程和内核的交互,比如系统调用、信号传递、进程状态变更等。Strace底层使用内核的ptrace特性来实现其功能。

缺点:缺少分析问题的有效信息

 

三、如何减少磁盘I/O对APP性能的影响

1、拒绝主线程I/O:比如主线程DB操作,主线程文件操作

2、提升I/O效率:8KB buffer读写磁盘,复用数据库连接,低效sql语句,sql语句重复编译,使用事务

3、减少无效I/O:重复读写,pagesize不合理,索引使用错误

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