ADS(Advanced Design system)良率分析(Yield)、良率优化(YieldOptim)

本文介绍了如何使用Advanced Design System (ADS)进行射频电路的设计与良率分析。通过设置仿真参数,分析低通滤波器电路在元器件精度影响下的良品率,初始良率约为63.6%。接着,利用ADS的良率优化功能,调整元器件的取值范围,将良率提升至92%。通过这种方法,可以在设计阶段就预测并改进电路的生产合格率。

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前言

先进设计系统 Advanced Design system(ADS)Agilent Technologies 是领先的电子设计自动化软件,适用于射频、微波和信号完整性应用。

原理分析

我们使用软件虽然能够设计出如下低通滤波器电路,但是在实际生产中,会由于PCB精度和元器件精度而导致电路性能指标达不到要求,例如较好的高频电容和高频电感,精度为5%或10%,当个别元器件精度较差达到极值时,此电路为不合格品。

前面的文章我们分析了误差和敏感度,那么我们怎么得到整个电路的良品率?也就是说,在采用这个精度的元器件的电路中,有多少的电路是合格品?
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良率分析

仿真设置

添加良率分析的控件,以下两个都要添加进去。
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设置Yield的仿真次数。
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设置YieldSpec的参数。设置查看的是S参数中的S11参数,同时最大值为-15,以及变量是频率,范围是0.01GHz到0.2GHz。
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添加完成的原理图如下。
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仿真结果

点击仿真按钮后,在结果图中添加一个数据表。添加的参数是Yield。
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得到当前的良率为63.6%。
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良率优化

如果电路的良品率达不到要求,我们可以使用ADS中的良率优化功能,对良率进行优化。

仿真设置

先要对元器件的取值范围进行修改。双击元器件,选择对应的选项。
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对元器件的优化取值范围进行修改。对于L1和L3,范围设置为10nH-50nH,对于L2,范围设置为10nH-150nH,对于C1和C3,范围设置为10pF-50pF。
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添加良率优化的控件。
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修改默认的迭代次数为50。
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设置好后的原理图。在前面良率分析那一节中,保留良率分析参数控件,也就是YIELD SPEC,而把良率分析控件YIELD禁用。
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仿真结果

点击仿真按钮后,在结果图中添加一个数据表。添加的两个参数,分别是优化前和优化后的良率。
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可以看到良率从60提高到了92。
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选择Update,就可以把数据更新。
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更新后对应的参数。
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从S11参数的新曲线中可以得出,优化后,S11在通带0.01GHz-0.2GHz中,满足小于-15dB的指标。
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