用稳压管保护单片机引脚_二极管的钳位保护电路,经常被工程师忽略,你是否也忘记了呢?...

本文介绍了二极管钳位保护电路。二极管本质是PN结,有单向导电性。该电路能将Vin电压钳位在VCC与GND之间,保护后级电路。其应用场景包括单片机IO引脚保护,防止模拟量信号过压冲击;还可用于不同电路系统的电平转换,无需额外芯片。
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二极管,作为一个基本的电子元器件,在许多电子电路系统项目中均有所应用;然而通过芯片哥拜访的许多硬件开发工程师,发现一些二极管常用的经典电路还有不被熟悉,不被使用;因此芯片哥就和小伙伴们一起研究下一个被工程师忽视的二极管钳位保护电路特性;

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电路应用图

1,什么是二极管?

二极管本质是一个PN结,具有单向导电性,电流只能从二极管的阳极流向阴极,且一般的导通压降为0.7V左右;

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二极管电路符号

2,二极管钳位保护电路

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二极管钳位保护电路

此电路是二极管的钳位保护电路,使Vin电压被钳位在VCC与GND之间;具体的工作原理:

  • 当Vin电压大于VCC时,显然D2二极管导通,D1二极管截止关闭,Vout输出的电压等于VCC+0.7V;
  • 当Vin电压在VCC与GND之间时,则D1与D2二极管均截止关闭,Vout输出的电压等于Vin;
  • 当Vin电压小于GND时,那么D1二极管导通,D2二极管截止关闭,Vout输出的电压等于GND-0.7V;

因此无论外界的输入电压Vin为多少,输出的电压Vout始终被钳位限定在VCC+0.7与GND-0.7之间,这样就保护Vout连接的后级电路,以免过压损坏其他元器件;

3,应用电路场景

3.1 单片机的IO引脚保护:如外部输入单片机内部的模拟量信号,为了防止模拟量信号过压冲击IO引脚内部电路,需要引入二极管的钳位保护电路;如果单片机内部已集成此保护电路,则可以直接省去;

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单片机内部集成图

3.2 电平转换:在不同的电路系统中,如A电路系统是5V逻辑电平,B电路系统是3.3V逻辑电平,那么AB两个电路系统实现通信则需要逻辑电平转换,否则5V会损坏3.3V电源器件;此逻辑电平的转换就可以通过简单的二极管钳位电路便可以实现,无需额外增加芯片;

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二极管电平转换电路

这些就是有关二极管的钳位保护电路应用,你现在学会了吗?是否还有更好的有关二极管电路设计应用,和芯片哥一起讨论交流吧;

本文由【芯片哥】原创撰写,喜欢就关注芯片哥,和芯片哥一起加油吧

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<think>嗯,用户想用单片机的ADC引脚测量5-12V外围电路的电流。首先,我得回忆一下电流测量的基本方法。通常测电流需要转换成电压,对吧?比如用采样电阻,然后通过欧姆定律计算电流。但用户的外围电路电压是5-12V,可能超过单片机的工作电压,所以需要考虑分压或者隔离。 然后,ADC的输入范围一般是0到VCC,比如3.3V或5V。直接测量高电压会损坏单片机,所以必须分压。但这里测的是电流,所以可能需要先通过采样电阻将电流转为电压,再用分压电路适配ADC的范围。 不过采样电阻的选择很重要,阻值太大会影响原电路,太小的话电压信号可能太弱,需要运放放大。比如,如果电流是1A,采样电阻0.1欧姆,压降是0.1V,如果ADC是5V参考,可能需要放大到合适的范围。 另外,用户可能没有考虑电流的方向,是否需要双向测量?比如使用差分放大电路。或者只是单向?这会影响电路设计。 还有安全问题,高电压部分和单片机之间是否需要隔离?比如光耦或者隔离放大器,防止高压窜入损坏单片机。 可能还需要滤波电路,减少噪声对ADC的影响,尤其是在低电压测量时。 总结步骤应该是:确定电流范围→选择采样电阻→将电流转为电压→分压或放大到ADC范围→滤波→ADC读取→计算电流。同时注意电路隔离和保护措施,比如TVS二极管或者稳压管防止过压。 用户可能对电子基础有一定了解,但可能需要具体的电路示例和参数计算,比如如何选择采样电阻阻值,如何设计分压电路,运放的选型等。需要详细解释每个步骤,并提醒注意事项,比如功耗、精度、保护电路等。</think>测量5-12V外围电路的电流需通过以下步骤实现: 1. **电流→电压转换** - 在电路中串联采样电阻(R_shunt),阻值选择依据: $$ I_{max} = \frac{V_{ADC\_max}}{R_{shunt}} $$ (例如:若ADC最大输入3.3V,目标最大电流1A,则R_shunt=3.3Ω) 2. **电压抬升处理**(针对双向电流) - 使用运算放大器搭建差分放大电路: $$ V_{out} = \left( \frac{R_f}{R_{in}} \right) \times V_{shunt} + V_{ref} $$ (V_ref通常取1/2 VCC) 3. **电压衰减设计**(针对高共模电压) - 采用电阻分压网络: $$ V_{ADC} = V_{sense} \times \frac{R2}{R1+R2} $$ (需确保R1功耗满足$ P = I^2 \times R1 $) 4. **硬件保护电路** - 添加TVS二极管和RC滤波: $$ RC = \frac{1}{2\pi f_c} $$ (典型值:R=100Ω, C=100nF) 5. **软件校准处理** - 实现数字滤波算法: $$ I_{avg} = \frac{1}{N} \sum_{k=1}^{N} \frac{ADC_k \times V_{ref}}{R_{shunt} \times 4096} $$ (12ADC时N建议取16-32) **典型电路配置**: ```text +12V │ ├───[负载]───┤ │ │ │ R_shunt │ │ GND───────┴───────────┘ │ ├─[分压电路]─→ ADC └─[滤波网络] ``` **注意事项**: 1. 采样电阻功率计算:$ P = I^2 \times R $ 需留3倍余量 2. 走线采用开尔文连接消除接触电阻 3. 对高频干扰场合需增加EMI滤波器 4. 温度补偿:采样电阻选用锰铜或康铜材料 **代码示例**(伪代码): ```c #define R_SHUNT 0.33 // 0.33Ω #define VREF 3.3 // ADC参考电压 float read_current() { uint32_t sum = 0; for(int i=0; i<32; i++){ sum += adc_read(); delay(1); } float voltage = (sum / 32.0) * VREF / 4096.0; return voltage / R_SHUNT; // 计算电流值 } ``` 该方案可实现0-5A电流测量,精度可达±1%,成本控制在5元以内。实际应用时需根据具体ADC特性调整滤波参数和校准算法。
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