DFT
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集成电路可测性设计DFT的详细分类
前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...原创 2020-05-23 14:46:12 · 9515 阅读 · 0 评论 -
集成电路可测性设计(DFT，Design For Testability)
随着半导体集成电路产业的迅猛发展，设计方法、制造方法和测试方法已经成为集成电路发展过程中不可分割的三个部分。随着集成电路的高度集成化，最开始的徒手画电路图已经被淘汰，取而代之的是一套规范的硬件描述语言(HDL)，现在我们使用Verilog HDL可以描述几乎所有逻辑功能和需要的数字电路，只有一些特殊的电路比如数模混合接口等，还需要直接用器件画电路图。随着设计方法的更新升级，制造方法当然也没...原创 2019-12-22 18:04:59 · 6893 阅读 · 2 评论